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            安徽奧科試驗(yàn)設(shè)備有限公司
            中級會(huì)員 | 第5年

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            高低溫沖擊試驗(yàn)設(shè)備的應(yīng)用

            時(shí)間:2023/11/14閱讀:508
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            高低溫沖擊試驗(yàn)設(shè)備的應(yīng)用:


            高低溫沖擊試驗(yàn)箱如今十分活躍在電子元器件/模塊冷熱測試領(lǐng)域。因?yàn)樗谶M(jìn)行恒溫測試時(shí)具有穩(wěn)定性,可以穩(wěn)定的維持在某個(gè)溫度點(diǎn),精度可達(dá)±1℃;在做溫度沖擊時(shí)溫變速度之快:-55℃~+125℃ <10秒;真正達(dá)到溫度“沖擊"目的;溫度變化時(shí)間具有可控制性以及操作可程序化。



            現(xiàn)階段高低溫沖擊試驗(yàn)設(shè)備主要應(yīng)用在以下方面:

            1.芯片、微電子器件、集成電路(SOC、FPGA、PLD、MCU、ADC/DAC、DSP等);

            2.閃存Flash、UFS、eMMC;

            3.PCBs、MCMs、MEMS、IGBT、傳感器、小型模塊組件;

            4.光通訊(如:收發(fā)器 Transceiver 高低溫測試、SFP 光模塊高低溫測試等);

            5.其它電子行業(yè)、航空航天新材料、實(shí)驗(yàn)室研究。





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