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SIGMAKOKI西格瑪高穩(wěn)定不銹鋼鏡架 薄型空心框架結(jié)構(gòu),剛性高,熱平衡所需時(shí)間短。非常適用于光干涉測(cè)量,或其他的光學(xué)高精密測(cè)量等用途。
SIGMAKOKI西格瑪高穩(wěn)定不銹鋼鏡架 薄型空心框架結(jié)構(gòu),剛性高,熱平衡所需時(shí)間短。非常適用于光干涉測(cè)量,或其他的光學(xué)高精密測(cè)量等用途。
SIGMAKOKI西格瑪高穩(wěn)定不銹鋼鏡架MHX-50.8F薄型空心框架結(jié)構(gòu),剛性高,熱平衡所需時(shí)間短。非常適用于光干涉測(cè)量,或其他的光學(xué)高精密測(cè)量等用途。
SIGMAKOKI西格瑪高穩(wěn)定不銹鋼鏡架MHX-50.8A薄型空心框架結(jié)構(gòu),剛性高,熱平衡所需時(shí)間短。非常適用于光干涉測(cè)量,或其他的光學(xué)高精密測(cè)量等用途。
SIGMAKOKI西格瑪高穩(wěn)定不銹鋼鏡架 光學(xué)物鏡薄型空心框架結(jié)構(gòu),剛性高,熱平衡所需時(shí)間短。非常適用于光干涉測(cè)量,或其他的光學(xué)高精密測(cè)量等用途。
SIGMAKOKI西格瑪高穩(wěn)定不銹鋼鏡架MHX-25.4F薄型空心框架結(jié)構(gòu),剛性高,熱平衡所需時(shí)間短。非常適用于光干涉測(cè)量,或其他的光學(xué)高精密測(cè)量等用途。
SIGMAKOKI西格瑪高穩(wěn)定不銹鋼鏡架MHX-25.4A薄型空心框架結(jié)構(gòu),剛性高,熱平衡所需時(shí)間短。非常適用于光干涉測(cè)量,或其他的光學(xué)高精密測(cè)量等用途。
SIGMAKOKI西格瑪 物鏡 高穩(wěn)定不銹鋼鏡架薄型空心框架結(jié)構(gòu),剛性高,熱平衡所需時(shí)間短。非常適用于光干涉測(cè)量,或其他的光學(xué)高精密測(cè)量等用途。
SIGMAKOKI西格瑪反射鏡鏡架 高穩(wěn)定不銹鋼薄型空心框架結(jié)構(gòu),剛性高,熱平衡所需時(shí)間短。非常適用于光干涉測(cè)量,或其他的光學(xué)高精密測(cè)量等用途。
SIGMAKOKI西格瑪反射鏡鏡架 高穩(wěn)定不銹鋼薄型空心框架結(jié)構(gòu),剛性高,熱平衡所需時(shí)間短。非常適用于光干涉測(cè)量,或其他的光學(xué)高精密測(cè)量等用途。
日本Otsuka大塚薄膜厚度檢測(cè)儀 OPTM 系列可攜帶至現(xiàn)場(chǎng)的手持式 可測(cè)量0.1μm單位具有形狀的樣品也可非破壞的測(cè)量
Otsuka大塚高感度分光輻射亮度計(jì) HS-1000可攜帶至現(xiàn)場(chǎng)的手持式 可測(cè)量0.1μm單位具有形狀的樣品也可非破壞的測(cè)量
日本Otsuka大塚薄膜厚度檢測(cè)儀OPTM-H3可攜帶至現(xiàn)場(chǎng)的手持式 可測(cè)量0.1μm單位具有形狀的樣品也可非破壞的測(cè)量
日本Otsuka大塚薄膜厚度檢測(cè)儀 OPTM-H2可攜帶至現(xiàn)場(chǎng)的手持式 可測(cè)量0.1μm單位具有形狀的樣品也可非破壞的測(cè)量
日本Otsuka大塚薄膜厚度檢測(cè)儀 OPTM-H1可攜帶至現(xiàn)場(chǎng)的手持式 可測(cè)量0.1μm單位具有形狀的樣品也可非破壞的測(cè)量
日本Otsuka大塚薄膜厚度檢測(cè)儀 OPTM series 可攜帶至現(xiàn)場(chǎng)的手持式 可測(cè)量0.1μm單位具有形狀的樣品也可非破壞的測(cè)量
日本Otsuka大塚薄膜厚度檢測(cè)儀 SF-3可攜帶至現(xiàn)場(chǎng)的手持式 可測(cè)量0.1μm單位具有形狀的樣品也可非破壞的測(cè)量
日本Otsuka大塚薄膜厚度檢測(cè)儀 OPTM series 可攜帶至現(xiàn)場(chǎng)的手持式 可測(cè)量0.1μm單位具有形狀的樣品也可非破壞的測(cè)量
日本Otsuka大塚薄膜厚度檢測(cè)儀 OPTM series 可攜帶至現(xiàn)場(chǎng)的手持式 可測(cè)量0.1μm單位具有形狀的樣品也可非破壞的測(cè)量
日本Otsuka大塚薄膜厚度檢測(cè)儀 OPTM series 可攜帶至現(xiàn)場(chǎng)的手持式 可測(cè)量0.1μm單位具有形狀的樣品也可非破壞的測(cè)量
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