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            首頁>>上海波銘科學(xué)儀器有限公司>>產(chǎn)品展示>>光譜系統(tǒng)>>半導(dǎo)體晶圓缺陷檢測儀

            • 半導(dǎo)體晶圓缺陷檢測儀 參考價:面議

              半導(dǎo)體晶圓缺陷檢測儀利用亮場和暗場顯微成像技術(shù),通過自動化的圖像捕捉以及人工智能分析工具,為晶圓表面缺陷的檢測提供了快速且高效的解決方案。
              型號: 廠商性質(zhì):生產(chǎn)商所在地:上海市 對比
              晶圓缺陷檢測儀半導(dǎo)體晶圓缺陷晶圓半導(dǎo)體晶圓缺陷
              2025/1/23 10:32:116741

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