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當(dāng)前位置：北京亞科晨旭科技有限公司>>產(chǎn)品展示>>表征檢測(cè)>>探針輪廓儀（臺(tái)階儀）
探針式表面輪廓儀在嚴(yán)格的質(zhì)量保證與控制下獲得300mm性能檢測(cè);可容納多大350mm*350mm的樣品，將Dektak有意的可重復(fù)性和再現(xiàn)性應(yīng)用于大尺寸晶片及面...
Dektak XTL 嚴(yán)格的質(zhì)量保證與控制下獲得300mm性能檢測(cè);可容納多大350mm*350mm的樣品，將Dektak有意的可重復(fù)性和再現(xiàn)性應(yīng)用于大尺寸晶片...
Dektak XTL 嚴(yán)格的質(zhì)量保證與控制下獲得300mm性能檢測(cè);可容納多大350mm*350mm的樣品，將Dektak有意的可重復(fù)性和再現(xiàn)性應(yīng)用于大尺寸晶片...
布魯克探針式表面輪廓儀（又稱“臺(tái)階儀"）歷今四十載，積累大量專有技術(shù)。從傳統(tǒng)的二維表面粗糙度和臺(tái)階高度測(cè)量，到更高級(jí)的三維表面成像和薄膜應(yīng)力測(cè)試，Dektak臺(tái)...
布魯克探針式表面輪廓儀（又稱“臺(tái)階儀"）歷今四十載，積累大量專有技術(shù)。從傳統(tǒng)的二維表面粗糙度和臺(tái)階高度測(cè)量，到更高級(jí)的三維表面成像和薄膜應(yīng)力測(cè)試，Dektak臺(tái)...
Bruker臺(tái)階儀Dektak XT也叫探針式表面輪廓儀（臺(tái)階儀）；實(shí)現(xiàn)了更高的重復(fù)性和分辨率，垂直高度重復(fù)性。實(shí)現(xiàn)了納米尺度的表面輪廓測(cè)量，在微電子、半導(dǎo)體、...
布魯克DektakXT （探針式表面輪廓儀）設(shè)計(jì)創(chuàng)新，Bruker探針式表面輪廓儀（臺(tái)階儀）；實(shí)現(xiàn)了更高的重復(fù)性和分辨率，垂直高度重復(fù)性5Å。產(chǎn)品源自...
臺(tái)階高度重復(fù)性優(yōu)于5埃（5 Å）?單拱龍門式設(shè)計(jì)實(shí)現(xiàn)了突破性的掃描穩(wěn)定性?良好的"智能化電子器件"實(shí)現(xiàn)了低噪聲的新標(biāo)桿操作簡(jiǎn)便，高效易用?直觀化的Vi...
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