本試驗(yàn)設(shè)備用來(lái)測(cè)試材料結(jié)構(gòu)或復(fù)合材料，在瞬間下經(jīng)*溫和極低溫的連續(xù)環(huán)境下所能承受的程度，藉以在Z短時(shí)間內(nèi)試驗(yàn)其因熱脹冷縮所引起的變化或物理傷害，適用的對(duì)象包括金屬、塑料、橡膠、電子等材料，可作為其產(chǎn)品改進(jìn)的依據(jù)或參考。本試驗(yàn)箱禁止易燃、易爆、易揮發(fā)性物質(zhì)試樣的試驗(yàn)或儲(chǔ)存腐蝕性物質(zhì)試樣的試驗(yàn)或儲(chǔ)存生物試樣的試驗(yàn)或儲(chǔ)存強(qiáng)電磁發(fā)射源試樣的試驗(yàn)或儲(chǔ)存

產(chǎn)品名稱(chēng)：冷熱沖擊試驗(yàn)箱/高低溫變溫沖試驗(yàn)機(jī)/高低溫沖擊試驗(yàn)機(jī)
產(chǎn)品型號(hào)：XK-8068
符合標(biāo)準(zhǔn)：GB/T 2423.1-2001 試驗(yàn)A：低溫試驗(yàn)方法
　　　　　GB/T 2423.2-2001 試驗(yàn)B：高溫試驗(yàn)方法
產(chǎn)品性能及規(guī)格：冷熱沖擊試驗(yàn)箱用來(lái)測(cè)試材料結(jié)構(gòu)或復(fù)合材料，在瞬間下經(jīng)*溫和極低溫的連續(xù)環(huán)境下所能承受的程度，藉以在zui短時(shí)間內(nèi)試驗(yàn)其因熱脹冷縮所引起的變化或物理傷害，適用的對(duì)象包括金屬、塑料、橡膠、電子等材料，可作為其產(chǎn)品改進(jìn)的依據(jù)或參考。本試驗(yàn)箱禁止易燃、易爆、易揮發(fā)性物質(zhì)試樣的試驗(yàn)或儲(chǔ)存腐蝕性物質(zhì)試樣的試驗(yàn)或儲(chǔ)存生物試樣的試驗(yàn)或儲(chǔ)存強(qiáng)電磁發(fā)射源試樣的試驗(yàn)或儲(chǔ)存
冷熱沖擊試驗(yàn)箱規(guī)格參數(shù)：
內(nèi)容積：80L

內(nèi)箱尺寸(mm)W400XH500XD400

外型尺寸(不大于)(mm)W1550*H2050*D1600

重 量：300㎏

高溫室

預(yù)熱溫度范圍：+60℃～+180℃

升溫時(shí)間+60℃+180℃ ≤25min

注：升溫時(shí)間為高溫室單獨(dú)運(yùn)轉(zhuǎn)時(shí)的性能

低溫室

預(yù)冷溫度范圍：-65℃～-10℃

降溫時(shí)間：+20℃ -65℃≤70min

注：降溫時(shí)間為低溫室單獨(dú)運(yùn)轉(zhuǎn)時(shí)的性能

 
試驗(yàn)室（試樣區(qū)）
試驗(yàn)方式：氣動(dòng)風(fēng)門(mén)切換2溫區(qū)或3溫區(qū)
溫度沖擊范圍（+60～+150）℃/（-50～-10）℃
溫度波動(dòng)度：±0.5℃
溫度偏差：±2.0℃
溫度恢復(fù)時(shí)間
恢復(fù)條件：≤5min
試樣：塑料封裝集成電路（均布）
傳感器位置：試樣的上風(fēng)側(cè)
 
注： 1.測(cè)試環(huán)境條件：環(huán)境溫度為+25℃、相對(duì)濕度≤85%、試驗(yàn)箱內(nèi)無(wú)試樣條件下
   2.測(cè)試方法：GB/T 5170.2-1996 溫度試驗(yàn)設(shè)備