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彎扭特性測(cè)試儀
彎扭特性測(cè)試儀主要用于測(cè)試IC卡的彎曲、扭曲試驗(yàn)，符合國(guó)標(biāo)GB/T 16649.1，國(guó)標(biāo)GB/T-17554.1-2006及ISO10373和ISO7816-1...
型號(hào)：所在地：上海市參考價(jià)： ￥38000 更新時(shí)間：2024/1/11 19:49:20 對(duì)比

彎扭特性測(cè)試儀彎扭特性試驗(yàn)機(jī)彎扭特性檢測(cè)儀彎曲測(cè)試儀扭曲特性測(cè)試儀
IC卡芯片檢測(cè)設(shè)備
IC卡芯片檢測(cè)設(shè)備適用于軌道交通卡、銀行磁卡、醫(yī)療保險(xiǎn)卡、智能卡、地鐵卡、通訊卡、公交卡、會(huì)員卡等系列磁卡的反復(fù)彎曲扭轉(zhuǎn)試驗(yàn)，三輪測(cè)試，點(diǎn)壓力測(cè)試試驗(yàn)。
型號(hào)：所在地：上海市參考價(jià)： ￥38000 更新時(shí)間：2024/1/11 18:49:47 對(duì)比

IC卡芯片檢測(cè)設(shè)備銀聯(lián)卡芯片檢測(cè)儀器 IC卡芯片測(cè)試儀器 IC卡芯片壓力測(cè)試智能卡芯片壓力檢測(cè)
接觸式IC卡檢測(cè)設(shè)備
接觸式IC卡檢測(cè)設(shè)備適用于軌道交通卡、銀行磁卡、醫(yī)療保險(xiǎn)卡、智能卡、地鐵卡、通訊卡、公交卡、會(huì)員卡等系列磁卡的反復(fù)彎曲扭轉(zhuǎn)試驗(yàn)，三輪測(cè)試，點(diǎn)壓力測(cè)試試驗(yàn)。
型號(hào)：所在地：上海市參考價(jià)： ￥38000 更新時(shí)間：2024/1/11 18:47:38 對(duì)比

接觸式IC卡檢測(cè)設(shè)備非接觸式IC卡測(cè)試儀器接觸式IC卡測(cè)試儀器接觸式IC卡穩(wěn)定性檢測(cè)接觸式IC卡性能檢測(cè)
銀聯(lián)卡性能測(cè)試儀器
銀聯(lián)卡性能測(cè)試儀器適用于軌道交通卡、銀行磁卡、醫(yī)療保險(xiǎn)卡、智能卡、地鐵卡、通訊卡、公交卡、會(huì)員卡等系列磁卡的反復(fù)彎曲扭轉(zhuǎn)試驗(yàn)，三輪測(cè)試，點(diǎn)壓力測(cè)試試驗(yàn)。
型號(hào)：所在地：上海市參考價(jià)： ￥38000 更新時(shí)間：2024/1/11 18:45:17 對(duì)比

IC卡檢測(cè)設(shè)備 IC卡質(zhì)量檢測(cè)儀器銀聯(lián)卡性能測(cè)試儀器智能卡測(cè)試銀聯(lián)卡檢測(cè)設(shè)備
智能卡彎曲扭曲測(cè)試機(jī)
智能卡彎曲扭曲測(cè)試機(jī)主要用于測(cè)試IC卡的彎曲、扭矩試驗(yàn)，符合國(guó)標(biāo)GB/T 16649.1，國(guó)標(biāo)GB/T-17554.1-2006及ISO10373和ISO781...
型號(hào)：所在地：上海市參考價(jià)： ￥38000 更新時(shí)間：2024/1/11 17:29:40 對(duì)比

智能卡彎曲扭曲測(cè)試機(jī)智能卡彎曲扭曲試驗(yàn)機(jī)智能卡彎曲扭曲檢測(cè)儀智能卡彎曲測(cè)試智能卡扭曲測(cè)試
Dynamic Torsion Tester
Dynamic Torsion Tester
型號(hào)：所在地：上海市參考價(jià)： ￥38000 更新時(shí)間：2024/1/11 16:09:34 對(duì)比

Dynamic Torsion Tester Dynamic Torsion Tester Dynamic Torsion Tester Dynamic Torsion Tester Dynamic Torsion Tester
Dynamic Bending Tester
Dynamic Bending Tester
型號(hào)：所在地：上海市參考價(jià)： ￥38000 更新時(shí)間：2024/1/11 16:07:30 對(duì)比

Dynamic Bending Tester Dynamic Bending Tester Dynamic Bending Tester Dynamic Bending Tester Dynamic Bending Tester
IC卡點(diǎn)壓力測(cè)試機(jī)
IC卡點(diǎn)壓力測(cè)試機(jī)本機(jī)適用于IC卡、智能卡、高分子材料等磁卡的靜態(tài)物理力學(xué)性能測(cè)試分析研究
型號(hào)：所在地：上海市參考價(jià)： ￥38000 更新時(shí)間：2024/1/11 12:55:41 對(duì)比

IC卡點(diǎn)壓力測(cè)試機(jī)IC卡點(diǎn)壓力試驗(yàn)機(jī)IC卡點(diǎn)壓力試驗(yàn)機(jī)IC卡點(diǎn)壓力檢測(cè)儀 IC卡點(diǎn)壓力檢測(cè)儀價(jià)格
識(shí)別卡彎扭檢測(cè)儀
識(shí)別卡彎扭檢測(cè)儀
型號(hào)：所在地：上海市參考價(jià)： ￥38000 更新時(shí)間：2024/1/11 7:10:57 對(duì)比

識(shí)別卡動(dòng)態(tài)抗彎扭試驗(yàn)機(jī)識(shí)別卡彎扭檢測(cè)儀識(shí)別卡彎扭測(cè)試儀識(shí)別卡彎扭試驗(yàn)機(jī)識(shí)別卡彎曲扭轉(zhuǎn)試驗(yàn)機(jī)
識(shí)別卡動(dòng)態(tài)抗彎扭試驗(yàn)機(jī)
識(shí)別卡動(dòng)態(tài)抗彎扭試驗(yàn)機(jī)主要用于測(cè)試IC卡的彎曲、扭矩試驗(yàn)，符合國(guó)標(biāo)GB/T 16649.1《識(shí)別卡帶觸點(diǎn)的集成電路卡第1部分：物理特性》，國(guó)標(biāo)GB/T-17...
型號(hào)：所在地：上海市參考價(jià)： ￥38000 更新時(shí)間：2024/1/11 7:08:54 對(duì)比

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識(shí)別卡動(dòng)態(tài)彎扭檢測(cè)儀
識(shí)別卡動(dòng)態(tài)彎扭檢測(cè)儀主要用于大專院校、科研單位、質(zhì)量檢測(cè)中心、企業(yè)單位品質(zhì)檢測(cè)部門、實(shí)驗(yàn)室等磁卡的物理力學(xué)性能、工藝性能的測(cè)試和分板研究，深受廣大用戶青睞。
型號(hào)：所在地：上海市參考價(jià)： ￥38000 更新時(shí)間：2024/1/11 7:06:56 對(duì)比

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識(shí)別卡動(dòng)態(tài)彎扭循環(huán)檢測(cè)儀
識(shí)別卡動(dòng)態(tài)彎扭循環(huán)檢測(cè)儀主要用于大專院校、科研單位、質(zhì)量檢測(cè)中心、企業(yè)單位品質(zhì)檢測(cè)部門、實(shí)驗(yàn)室等磁卡的物理力學(xué)性能、工藝性能的測(cè)試和分板研究，深受廣大用戶青睞。
型號(hào)：所在地：上海市參考價(jià)： ￥38000 更新時(shí)間：2024/1/11 7:05:22 對(duì)比

識(shí)別卡動(dòng)態(tài)彎曲扭轉(zhuǎn)循環(huán)測(cè)試儀識(shí)別卡動(dòng)態(tài)彎扭循環(huán)檢測(cè)儀識(shí)別卡動(dòng)態(tài)彎扭檢測(cè)儀識(shí)別卡動(dòng)態(tài)抗彎扭試驗(yàn)機(jī)識(shí)別卡彎曲扭轉(zhuǎn)試驗(yàn)機(jī)
識(shí)別卡動(dòng)態(tài)彎曲扭轉(zhuǎn)循環(huán)測(cè)試儀
識(shí)別卡動(dòng)態(tài)彎曲扭轉(zhuǎn)循環(huán)測(cè)試儀主要用于大專院校、科研單位、質(zhì)量檢測(cè)中心、企業(yè)單位品質(zhì)檢測(cè)部門、實(shí)驗(yàn)室等磁卡的物理力學(xué)性能、工藝性能的測(cè)試和分板研究，深受廣大用戶青...
型號(hào)：所在地：上海市參考價(jià)： ￥38000 更新時(shí)間：2024/1/11 7:02:55 對(duì)比

識(shí)別卡動(dòng)態(tài)彎曲扭轉(zhuǎn)循環(huán)測(cè)試儀識(shí)別卡動(dòng)態(tài)彎扭循環(huán)檢測(cè)儀識(shí)別卡動(dòng)態(tài)彎扭檢測(cè)儀識(shí)別卡動(dòng)態(tài)抗彎扭試驗(yàn)機(jī)識(shí)別卡彎曲扭轉(zhuǎn)試驗(yàn)機(jī)

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