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            紫外近紅應(yīng)用-薄膜測(cè)量

            閱讀:3644      發(fā)布時(shí)間:2014-8-20
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            實(shí)驗(yàn)三  紫外可見反射薄膜測(cè)量

            目的:研究薄膜的光學(xué)透射性能

            檢測(cè):不同金屬薄膜在紫外可見近紅外的光譜  

            原理:研究薄膜的光學(xué)透射性能以及均勻性

            試驗(yàn)方法:

            采用紫外可見近紅外分光光度計(jì)中波長(zhǎng)掃描方式,做基線,后測(cè)定樣品

            測(cè)定出不同的金屬氧化物薄膜在紫外可見區(qū)光學(xué)性能不同

            圖表 1 不同位置反射率

             

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