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            腐蝕速度測(cè)量?jī)x /腐蝕率測(cè)定儀 型號(hào): ZKW-880

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              2013年03月19日
            關(guān)鍵詞
            腐蝕速度測(cè)量?jī)x,腐蝕率測(cè)定儀,腐蝕速度測(cè)量?jī)x,腐蝕率測(cè)定儀
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            北京同德創(chuàng)業(yè)科技有限公司
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            資料簡(jiǎn)介

            腐蝕速度測(cè)量?jī)x /腐蝕率測(cè)定儀 型號(hào):   ZKW-880

                 腐蝕速度測(cè)量?jī)x是采用線性化、弱化及交流阻抗相結(jié)合的方法進(jìn)行腐蝕速度的測(cè)量。化電阻測(cè)量技術(shù)是采用斯特恩公式來估算腐蝕電流密度Icorr。 
            Icorr =B/Rp  
                    腐蝕速度測(cè)量?jī)x弱化測(cè)量技術(shù)是在用線性化技術(shù)測(cè)量出化電阻的基礎(chǔ)上,對(duì)被測(cè)電施加弱化,通過弱化區(qū)的化電流求出塔菲爾常數(shù),從而求得金屬的腐蝕速度.弱化技術(shù)既解決了線性化技術(shù)因估算塔菲爾系數(shù)所帶來的較大的理論誤差,又解決了化曲線方法即塔菲爾直線外推法所導(dǎo)致的對(duì)電表面的破壞。交流阻抗方法是對(duì)腐蝕體系施加微小的高頻正弦波信號(hào),由于高頻信號(hào)可穿過金屬和介質(zhì)之間所形成的界面電容,并全部作用在介質(zhì)電阻上,由此測(cè)出體系的介質(zhì)電阻,從穩(wěn)態(tài)線性化測(cè)量求出的化電阻減去介質(zhì)電阻獲得腐蝕體系的實(shí)際化電阻,從而準(zhǔn)確的求出腐蝕速度。 
                 腐蝕速度測(cè)量?jī)x應(yīng)用領(lǐng)域 
            ?適用于工業(yè)生產(chǎn)現(xiàn)場(chǎng)的快速腐蝕速度測(cè)量 
             ?實(shí)驗(yàn)室金屬腐蝕速度的評(píng)定研究
            緩蝕劑篩選 ,水質(zhì)穩(wěn)定劑、涂層 性能評(píng)價(jià)等 
            對(duì)腐蝕趨勢(shì)進(jìn)行定性觀測(cè),并給出 定量的結(jié)果   
                腐蝕速度測(cè)量?jī)x技術(shù)指標(biāo) 
                  [ 儀器主機(jī) ] 
                    操作溫度                           0-40 ℃ 
                    相對(duì)濕度                           ≤80%RH 
                    Ecorr測(cè)量范圍                      ±800mV 
                                                         -4                         2 
                    腐蝕速度測(cè)量范圍                       4 ×10   ~10mm/a     (電面積1cm  ) 
                                                         -4                    2 
                                                   1 ×10   ~2/a   (電面積4cm  ) 
                    化電阻RP測(cè)量范圍                     20Ω~500KΩ 
                    介質(zhì)電阻RX測(cè)量范圍                     10Ω~100 KΩ 
                    一次測(cè)量時(shí)間                         2 min 
                    定時(shí)自動(dòng)測(cè)量時(shí)間間隔                     10—99 min 
                    數(shù)據(jù)存儲(chǔ)容量                         2000組 
                    與模擬體系對(duì)比測(cè)量誤差                    ≤3%

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