高、低溫試驗是模擬環(huán)境試驗中*的試驗設備,環(huán)境試驗的試驗場地應能具有廣泛的代表性,能進行近可能多的試驗項目,并且應與將來可能作戰(zhàn)的環(huán)境近可能地接近。但是,環(huán)境試驗場往往與真實的使用環(huán)境存在差別 .
高溫試驗:試驗中兵器處于高溫空氣中,但不受到陽光直接照射。試驗針對高溫 季節(jié)在室內(nèi)或密閉空間中或接近發(fā)動機等熱源處儲藏或使用兵器的情形。僅當太陽輻射試 驗不能檢驗高溫效應時才進行這項試驗。試驗的目的是檢驗在高溫環(huán)境中儲藏或使用 的性能。
低溫試驗:試驗適用于在壽命周期中很可能在低溫環(huán)境中使用的試件。試驗的目 的是檢驗試件能否在長期的低溫環(huán)境中儲藏、操縱控制和作戰(zhàn)。
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