1. 產(chǎn)品概述
材質(zhì):高純金(Au ≥ 99.99%)
尺寸:?51 mm × 厚度 0.1 mm(可定制其他規(guī)格)
適用設(shè)備:Shinkuu系列噴金儀(兼容多數(shù)磁控濺射鍍膜系統(tǒng))
主要用途:SEM樣品導(dǎo)電鍍層、EBSD分析增強(qiáng)、光學(xué)反射膜制備等。
2. 關(guān)鍵性能參數(shù)
項(xiàng)目 | 技術(shù)指標(biāo) |
---|---|
純度 | ≥99.99%(4N級(jí),ICP-MS認(rèn)證) |
密度 | 19.32 g/cm3(理論值) |
晶粒尺寸 | ≤100 nm(XRD分析) |
表面粗糙度 (Ra) | ≤0.2 μm(AFM測(cè)試) |
電阻率 | ≤2.2 μΩ·cm(4點(diǎn)探針?lè)ǎ?/span> |
濺射速率 | 80-120 ?/min(DC 30W, Ar 15sccm) |
推薦工作氣壓 | 0.5-3 Pa(高純Ar環(huán)境) |
3. 產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)
? 超高純度:極低雜質(zhì)含量(Fe、Cu等<10ppm),確保鍍膜無(wú)污染。
? 超薄設(shè)計(jì):0.1mm厚度優(yōu)化濺射效率,減少熱應(yīng)力導(dǎo)致的靶材變形。
? 均勻成膜:磁控濺射后膜厚偏差≤±5%(旋轉(zhuǎn)樣品臺(tái)條件下)。
? 長(zhǎng)壽命:典型使用壽命≥6小時(shí)(30W DC濺射條件)。
? 兼容性廣:適用于SEM、FIB-SEM、TEM樣品制備及XRF校準(zhǔn)。
4. 典型應(yīng)用
(1)SEM樣品導(dǎo)電鍍層
推薦膜厚:5-15 nm
效果:消除荷電效應(yīng),提升二次電子信號(hào)3-5倍。
(2)EBSD分析增強(qiáng)
推薦膜厚:3-8 nm
效果:減少背景噪聲,提高衍射信號(hào)信噪比。
(3)光學(xué)反射膜
推薦膜厚:50-200 nm
效果:可見(jiàn)光區(qū)反射率≥95%(λ=550 nm)。
5. 操作指南
(1)安裝與存儲(chǔ)
安裝:使用無(wú)塵手套操作,確保靶材與陰極接觸良好。
存儲(chǔ):干燥氮?dú)夤瘢≧H<30%),避免氧化。
(2)濺射參數(shù)推薦(DC磁控濺射)
濺射時(shí)間:30-180 s(視膜厚需求調(diào)整)
工作氣壓:0.5-2 Pa(高純Ar,99.999%)
基板溫度:室溫(可選冷卻至-10℃以降低熱影響)
靶基距:50-80 mm
(3)維護(hù)與更換
壽命終點(diǎn)判斷:
濺射速率下降>20%
鍍膜出現(xiàn)明顯不均勻或雜質(zhì)
廢棄處理:按貴金屬?gòu)U料回收(不可隨意丟棄)。
6. 質(zhì)量控制與認(rèn)證
批次檢測(cè)報(bào)告:提供XRD晶相分析、ICP-MS成分檢測(cè)、AFM表面形貌數(shù)據(jù)。
兼容標(biāo)準(zhǔn):符合ISO 9001、ASTM F76等國(guó)際規(guī)范。
7. 注意事項(xiàng)
? 真空要求:本底真空≤5×10?3 Pa,避免殘留氣體污染。
? 避免過(guò)熱:連續(xù)濺射時(shí)建議間歇冷卻,防止靶材熱裂。
? 安全防護(hù):濺射過(guò)程中避免直接觀(guān)察等離子體,佩戴防護(hù)眼鏡。
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