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印刷電路板上的異物和斑點(diǎn)等會(huì)造成導(dǎo)電故障，為了防止此類問題的發(fā)生，查明異物和斑點(diǎn)的來源極為重要。本文向您介紹使用島津AIM-9000缺陷自動(dòng)分析系統(tǒng)，對(duì)印刷電路板上的異物進(jìn)行定性分析的示例。
microSDTM卡的大視野相機(jī)觀察圖像
對(duì)在microSDTM卡端子上的異物進(jìn)行掃描和定性分析時(shí)，使用AIM-9000的大視野相機(jī)，可以順利完成從大視野觀察到確定掃描位置的一系列操作。另外，根據(jù)異物形狀分別使用反射法和ATR 法，可以得到良好的光譜。
了解詳情，敬請(qǐng)點(diǎn)擊《印刷電路板的缺陷分析》
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