利用ICP-OES測量Cs時(shí)，主波長為455.531nm，但靈敏度本身非常低，無法測量低濃度，僅可在數(shù)百ppm以上的濃度下測量。因此，目前還在使用ICP-MS測量 Cs。但是，如果想用ICP-MS測量 Cs，除了極少數(shù)樣品外，還需要大量稀釋樣本，因此會(huì)產(chǎn)生較多的實(shí)驗(yàn)誤差和麻煩。
為此，Perkin Elmer使用檢測范圍廣的ICP-OES來測量Cs，為了克服在用ICP-OES測定Cs的過程中存在的檢出限低的問題，提出了新的Cs測定波長。
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