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            利用NexION 2000 ICP-MS 對半導(dǎo)體級鹽酸中的雜質(zhì)進(jìn)行分析

            閱讀:674      發(fā)布時間:2020-03-24
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                在半導(dǎo)體設(shè)備的生產(chǎn)過程中,許多流程中都要用到各種酸類試劑。其中重要的是鹽酸(HCl),其主要用途是與過氧化氫和水配制成混合物用來清潔硅晶片的表面。由于半導(dǎo)體設(shè)備尺寸不斷縮小,其生產(chǎn)中使用的試劑純度變得越來越重要,這是因?yàn)榧词故巧倭侩s質(zhì)也會導(dǎo)致設(shè)備的失效。常規(guī)的測定條件下,氬、氧、氫離子會與酸基體相結(jié)合,對待測元素產(chǎn)生多原子離子干擾。

                珀金埃爾默公司的NexION 2000 電感耦合等離子體質(zhì)譜儀(ICP-MS)可提供多種*消除多原子離子干擾的方式。在鹽酸分析中,除去氯的干擾是至關(guān)重要的,目前有效的反應(yīng)氣是高純氨氣和高純氧氣。

                本文介紹了NexION 2000 ICP-MS 對半導(dǎo)體級鹽酸進(jìn)行雜質(zhì)分析的應(yīng)用案例,*可以滿足或超越SEMI 標(biāo)準(zhǔn)。

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            珀金埃爾默企業(yè)管理(上海)有限公司

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