高純鎳粉作為一種重要的工業(yè)原材料，具有特殊的磁性、熱阻、化學活性，廣泛應用于制備高熔點高硬度材料、催化劑、貯氫材料、光吸收材料等金屬材料，在原子能工業(yè)、軍事工業(yè)中發(fā)揮了不可替代作用[1]。高純鎳粉作為研制相關(guān)金屬材料的原料，其雜質(zhì)含量與后續(xù)研制生產(chǎn)的金屬材料質(zhì)量密切相關(guān)，因此，研究開發(fā)一種快速準確的高純鎳粉中雜質(zhì)含量分析測試方法具有重要的現(xiàn)實意義。
目前，測定鎳中雜質(zhì)元素的現(xiàn)行國家標準方法（GB/T 8647 鎳化學分析方法）主要采用分光光度法和原子吸收光譜法，這兩種方法適用于單元素逐一測定，測試效率并不高，電感耦合等離子體原子發(fā)射光譜法（inductively coupled plasma atomic emission spectrometry，珀金埃爾默ICP-OES）分析技術(shù)相對快捷，已廣泛應用于分析測試領(lǐng)域[2～3]，美國 ASTM 標準正是采用ICP-AES 技術(shù)測定了鎳合金中合金元素和雜質(zhì)元素含量（E2594-09 Standard Test Method forAnalysis of Nickel Alloy by Inductively Coupled Plasma Atomic Emission Spectrometry），但并未測定 Fe 元素含量。
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