輻射率（也稱發(fā)射率）是依據(jù)物體本身的溫度輻射出能量的能力，是描述被測物體輻射能力的參數(shù)，也指物體自身輻射的能量與同一溫度下黑體所輻射的能量比，用符號 ε 表示。輻射率僅僅與物體表面的性質(zhì)（成分、結(jié)構(gòu)）有關(guān)。熱輻射是一種電磁波，光譜范圍一般指 0.2μ ～ 50μ，其中包括可見光。在物理學(xué)中，普朗克黑體輻射定律是用于描述在任意溫度 T 下，從一個黑體中發(fā)射的電磁輻射的輻射率與電磁輻射的頻率的關(guān)系公式。這里輻射率是頻率ν的函數(shù)：
我們通常只關(guān)心材料表面輻射的強(qiáng)度、空間分布及其光譜分布，樣品外表面向整個半球空間發(fā)射的一切波長的總輻射能與同溫度下黑體輻射能之比稱為半球輻射率，垂直于樣品表面方向的輻射稱為法向輻射。根據(jù)不同的測試原理，輻射率測量方法通常分為量熱法，反射率法，輻射能量法和多波長測試方法等。
輻射能量法即為在同一溫度下用同一套光譜儀分別測試黑體和樣品的發(fā)射光譜曲線，兩者進(jìn)行積分比值就是材料的輻射率值。此法有以下幾個方面的限制：
1. 加熱不均勻帶來的黑體及樣品表面的溫度梯度對測量結(jié)果產(chǎn)生影響；
2. 無法理想控制黑體及樣品在一個相同的溫度進(jìn)行測量，1K 的溫差將對測量結(jié)果產(chǎn)生幾個百分點的誤差；
3. 傅里葉變換紅外光譜儀自身的噪聲和周圍環(huán)境將對較低溫度及較低輻射率的測試產(chǎn)生影響。
由于以上限制，目前基于傅里葉變換紅外光譜儀進(jìn)行的黑體爐輻射測量系統(tǒng)的測量誤差，大多在 3% 左右。
反射率法是依據(jù)基爾霍夫定律得出的輻射率測量方法，基爾霍夫定律用于描述物體的發(fā)射率與吸收比之間的關(guān)系，在給定溫度條件下，任何物體的輻射率在數(shù)值上等于此物體的吸收率。結(jié)合普朗克定律及維恩定律，直接測試出的材料反射光譜就可以計算出材料在測試溫度下的發(fā)射比，此方法操作簡單，成本低廉，尤其是對于輻射能量法難以測試的低發(fā)射率樣品能夠計算出材料的輻射率。
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