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            北京來(lái)亨科學(xué)儀器有限公司

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            顆粒測(cè)試基本知識(shí)-常見粒度測(cè)試方法

            閱讀:586      發(fā)布時(shí)間:2018-10-17
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            常用的粒度測(cè)試方法有:

            1. 激光散射法(毫米、微米、納米)

            2. 動(dòng)態(tài)光散射法(納 米)

            3. 動(dòng)態(tài)和靜態(tài)顯微鏡圖像法(微米、粒度和粒形)

            4. 重力和離心沉降法(微米 / 納米)

            5. 庫(kù)爾特(電阻)法(微米)

            6. 電鏡法(微米、納米)

            7. 超聲波法(微米)

            8. 透氣法(微米平均粒度)

            9. 篩分法(大于 38 微米)等。

             

            目前常用的是激光散射法、動(dòng)態(tài)光散射法和顯微圖像法。

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            北京來(lái)亨科學(xué)儀器有限公司

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