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布魯克 X 射線熒光光譜儀簡介
布魯克 X 射線熒光光譜儀（Bruker X-ray Fluorescence Spectrometer，簡稱 XRF）是一種基于 X 射線熒光原理的高精度元素分析儀器。它以其高靈敏度、非破壞性和多元素同步分析的特點，廣泛應用于工業(yè)、科研和質(zhì)量控制領(lǐng)域。
原理概述
X 射線熒光光譜儀通過向樣品發(fā)射高能 X 射線，激發(fā)樣品中的原子。被激發(fā)的原子通過釋放特征熒光 X 射線返回穩(wěn)定狀態(tài)。每種元素的熒光信號具有特定的能量和波長，通過檢測這些信號，儀器能夠精準地識別樣品中的元素種類及其含量。
布魯克 XRF 的核心特點
高靈敏度與寬元素覆蓋范圍
檢測范圍從輕元素（鈹 Be）到重元素（镅 Am），可覆蓋周期表的大部分元素。
檢出限低至 ppm 級，適用于微量和痕量分析。
非破壞性分析
無需對樣品進行化學處理，樣品結(jié)構(gòu)和形態(tài)不會受到破壞，適用于貴重樣品的分析。
多元素同時檢測
一次掃描即可同時檢測樣品中多種元素，顯著提升檢測效率。
樣品適配性強
能夠分析固體、粉末、液體和薄膜等多種樣品形態(tài)，無需復雜的制備步驟。
定量與定性分析功能
可實現(xiàn)高精度的元素定量分析，同時支持未知樣品的定性篩查。
布魯克 XRF 的技術(shù)優(yōu)勢
HighSense 光路技術(shù)
提升檢測靈敏度和精準度，尤其是對輕元素（如鋁、鎂）的分析。
XRF2 微區(qū)分析功能
光斑尺寸最小可達 300 µm，適用于樣品的元素分布研究和缺陷分析。
自動化與智能化操作
直觀的 TouchControl 界面和 EasyLoad 樣品處理系統(tǒng)，支持批量樣品自動化分析。
長壽命與低維護成本
SampleCare 技術(shù)保護關(guān)鍵部件免受污染，延長設(shè)備運行時間，降低維護頻率。
布魯克 XRF 的應用領(lǐng)域
工業(yè)與質(zhì)量控制
礦物與地質(zhì)：檢測礦石中主量和微量元素的含量。
金屬與合金：分析金屬成分、涂層厚度以及雜質(zhì)。
水泥與化工：控制生產(chǎn)中氧化物和微量元素的精確配比。
科研與材料研究
聚合物與納米材料：分析添加劑及元素分布。
古生物學與地球科學：研究化石、巖石等樣品中的微區(qū)元素分布。
環(huán)境與能源
石油化工：分析油品、潤滑劑中的微量元素。
環(huán)保監(jiān)測：快速檢測重金屬污染物。
布魯克 XRF 的常見型號
S8 TIGER
高性能波長色散 XRF（WDXRF），支持精密定量分析和微區(qū)掃描功能。
配備 HighSense 技術(shù)，實現(xiàn)輕元素高靈敏度檢測。
S2 PUMA
能量色散 XRF（EDXRF），適用于快速、多元素的定量分析，特別適合高通量應用。
優(yōu)勢總結(jié)
布魯克 X 射線熒光光譜儀以其高效、精準、多功能的特點，廣泛應用于科學研究和工業(yè)生產(chǎn)中。其核心優(yōu)勢包括：
廣泛適用性：從輕元素到重元素，從固體到液體樣品，適配性強。
高效檢測：多元素同步分析，降低檢測時間。
高可靠性：長期穩(wěn)定運行，減少維護需求。
布魯克 XRF 是現(xiàn)代實驗室和生產(chǎn)質(zhì)量控制的關(guān)鍵工具，為材料成分分析提供可靠保障。
