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            高光譜相機(jī)在薄膜厚度監(jiān)測上的應(yīng)用

            時間:2024/9/26閱讀:458
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            高光譜相機(jī)在薄膜厚度監(jiān)測上的應(yīng)用


                在薄膜行業(yè)和涂層行業(yè)中,厚度是一個非常重要的質(zhì)量參數(shù);厚度和均勻性嚴(yán)重影響著薄膜的性能,

            所以必須非常精準(zhǔn)的測量薄膜的厚度。而高光譜相機(jī)則可以很好的適用于該項(xiàng)應(yīng)用。

            在薄膜行業(yè)和涂層行業(yè)中,厚度是一個非常重要的質(zhì)量參數(shù);厚度和均勻性嚴(yán)重影響著薄膜的性能,所以必須非常精準(zhǔn)的測量薄膜的厚度。

            目前,X射線技術(shù)和光譜學(xué)技術(shù)在薄膜厚度測量方面得到了廣泛的應(yīng)用,不管是在臺式監(jiān)測系統(tǒng)中還是在線監(jiān)測系統(tǒng)中。

            image.png

            目前使用的一般是單點(diǎn)狀的探測器,而在線監(jiān)測系統(tǒng)一般都是把探測器安裝在一個橫向掃描的平臺上,

            得到的是一個之字形的檢測點(diǎn)圖形而不是整個薄膜,因此只能監(jiān)測部分樣品的厚度。

            一個行掃描(推掃式)高光譜相機(jī)就可以克服這個限制,它可以監(jiān)測整個的薄膜或者是涂層區(qū)域。在每條線掃描數(shù)據(jù)中,

            光譜數(shù)據(jù)能覆蓋薄膜的整個寬度,并且有很高的空間分辨率。

            高光譜相機(jī)檢測了4種高分子材料薄膜樣品的厚度,使用的是型號為Specim FX17(波長935-1700nm)高光譜相機(jī)。

            薄膜樣品的標(biāo)稱厚度為17,20,20和23um. 使用鏡面幾何的方法,并且仔細(xì)檢查干圖形。通過解析圖片上光譜位置及距離,就可以得到厚度值。

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