狠狠色丁香久久综合婷婷亚洲成人福利在线-欧美日韩在线观看免费-国产99久久久久久免费看-国产欧美在线一区二区三区-欧美精品一区二区三区免费观看-国内精品99亚洲免费高清

            深圳九州工業(yè)品有限公司
            中級會員 | 第3年

            15766191432

            filmetrics近紅外光來測量薄膜厚度F3-sX 系列

            時間:2024/4/13閱讀:385
            分享:

            F3-sX 系列

            F3-sX 系列能測量半導(dǎo)體與介電層薄膜厚度到3毫米,而這種較厚的薄膜與較薄的薄膜相比往往粗糙且均勻度較為不佳


            波長選配

            F3-sX系列使用近紅外光來測量薄膜厚度,即使有許多肉眼看來不透光(例如半導(dǎo)體)。 F3-s980 是波長為980奈米的版本,是為了針對成本敏銳的應(yīng)用而設(shè)計,F3-s1310是針對重?fù)诫s硅片的最佳化設(shè)計,F3-s1550則是為了最厚的薄膜設(shè)計。

            附件

            附件包含自動化測繪平臺,一個影像鏡頭可看到量測點的位置以及可選配可見光波長的功能使厚度測量能力最薄至15奈米。

            包含的內(nèi)容:

            集成光譜儀/光源裝置

            光斑尺寸10微米的單點測量平臺

            FILMeasure 8反射率測量軟件

            Si 參考材料

            FILMeasure 獨立軟件 (用于遠(yuǎn)程數(shù)據(jù)分析)

            image.png

            會員登錄

            ×

            請輸入賬號

            請輸入密碼

            =

            請輸驗證碼

            收藏該商鋪

            X
            該信息已收藏!
            標(biāo)簽:
            保存成功

            (空格分隔,最多3個,單個標(biāo)簽最多10個字符)

            常用:

            提示

            X
            您的留言已提交成功!我們將在第一時間回復(fù)您~
            撥打電話
            在線留言