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紅外一氧化碳分析儀在測量過程中容易受到哪些干擾
紅外一氧化碳分析儀是利用紅外光譜分析一氧化碳?xì)怏w的方法。它是根據(jù)被分析組分濃度不同而吸收的輻射能不同而產(chǎn)生的輻射能使檢測器內(nèi)的溫度不同，動(dòng)片薄膜兩側(cè)的壓力也不同，從而產(chǎn)生電容式檢測器的電信號(hào)。該方法可以間接地測定被分析組分的濃度。紅外一氧化碳分析儀在測量過程中會(huì)遇到不同的環(huán)境而產(chǎn)生誤差。
??1、光路干擾：
??一臺(tái)紅外氣體分析儀在預(yù)熱后通入氮?dú)鈺r(shí)，由于切光片的相位不平衡和光路不平衡所致，所以只要調(diào)整相位調(diào)節(jié)鈕使輸出達(dá)到小值，再調(diào)整光路平衡鈕使輸出zui變小。然后用零點(diǎn)氣和程氣反復(fù)校準(zhǔn)儀表的零點(diǎn)和范圍。
??2、水分干擾：
??如果零點(diǎn)氣體中有水分，通過紅外氣體分析儀進(jìn)行校準(zhǔn)，就會(huì)產(chǎn)生負(fù)誤差，近紅外區(qū)域，水具有連續(xù)的特征吸收光譜，若零點(diǎn)氣體中含有水分，則會(huì)使儀器零位產(chǎn)生負(fù)偏移，校準(zhǔn)后儀器的示值必然低于實(shí)際值，從而產(chǎn)生負(fù)誤差。
??3、干擾溫度變化：
??紅外氣體分析儀需要在恒溫下進(jìn)行檢測。環(huán)境溫度的變化直接影響到紅外光源的穩(wěn)定性、紅外輻射強(qiáng)度、氣室內(nèi)連續(xù)流動(dòng)的氣體密度，進(jìn)而影響檢測器的正常工作。當(dāng)溫度超過正常值時(shí)，檢測器輸出阻抗會(huì)下降，從而使檢測器無法正常工作，甚至損壞檢測器。紅外分析儀一般都有溫度控制和超溫保護(hù)電路，即使這樣，某些儀器特別是微量分析儀也能觀察到環(huán)境溫度的變化，特別是夏季高溫環(huán)境下的溫度變化。這種情況下，需要改變環(huán)境溫度，設(shè)置空調(diào)是解決問題的方法之一。
??4、大氣壓波動(dòng)干擾：
??大氣壓力在同一天內(nèi)甚至在同一地區(qū)也會(huì)發(fā)生變化。若天氣突變，其變化幅度較大。大氣壓力的變化直接影響到氣體放空速度。在測量氣室后直接放空的氣體樣品，由于大氣壓力的變化，使氣室內(nèi)的氣體密度發(fā)生變化，從而產(chǎn)生附加誤差。