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激光器LIV測試可用于進行光電材料性能評估
閱讀：1663 發(fā)布時間：2021-9-24
激光器LIV測試是一種廣泛用于光電材料、芯片、器件性能評估的測試。多數情況下，LIV測試環(huán)境中，除了光功率、電流、電壓測試，設計人員和測試人員還會利用已搭建的系統(tǒng)，加入溫控和光譜測量的項目。通過對這些被測件的光功率、激勵電流/電壓、光譜，以及上述參數隨溫度的變化，經過計算和數據/圖像處理，可以獲得很多關鍵參數和圖表，包括：
直接參數
可以直接讀取或獲得的測量值，如：工作電壓；工作電流；光功率（通過探測器光電流標定參數）；背光電流（如果有背光探測器）；峰值波長；邊模抑制比；溫度等.
間接參數
需要計算分析獲得的激光參數，如：閾值電流；輸出Kink（非線性）；斜效率；轉化效率；半高寬；等效電阻；結溫等。
可視圖表
包括：L-I-V曲線（包括P-I、I-V、I-轉換效率等）；波長-I曲線；波長-溫度曲線；功率-溫度曲線；工作電壓-溫度曲線；其它需要的多維視圖等。
激光器LIV測試需要根據被測件參數的不同，搭建相應的測試系統(tǒng)。這些需納入考慮的要素包括：
光譜測試時的光信號耦合；測試不帶尾纖的被測件光譜時，需要考慮如何將光信號耦合進光譜儀。對于大功率器件，積分球上額外的一個開孔就可以解決這個問題；但對于常規(guī)器件，由于功率較小，積分球耦合的光功率不足以支持光譜儀的測試要求，所以常常需要一個專門的耦合機制（如可移動的光纖配合收光透鏡）來實現，不同的耦合機制存在較大的測試效率區(qū)別。
儀器的同步；多臺儀器的同步在QCW測試模式下非常重要，不僅有系統(tǒng)時序的控制，還有測量儀器（如電流測試設備）的測量時間選擇。QCW測試結果不穩(wěn)定大多來自于系統(tǒng)級同步的問題。
軟件和算法；儀器控制和后續(xù)數據處理、計算和顯示需要系統(tǒng)級軟件。特別的，很多測試項有相關的標準來指導其算法，如閾值電流的判斷就有二乘法和二階導數法等不同方法。測試人員需根據需要編寫軟件，以得到相應結果。