薄膜測(cè)厚儀，又稱為測(cè)厚儀、薄膜厚度檢測(cè)儀、薄膜厚度儀等，薄膜測(cè)厚儀專業(yè)適用于量程范圍內(nèi)的塑料薄膜、薄片、隔膜、紙張、箔片、硅片等各種材料的厚度精確測(cè)量。

產(chǎn)品用途

塑料薄膜厚度測(cè)量儀適用于塑料薄膜、薄片、隔膜、紙張、箔片、硅片等各種材料的厚度精確測(cè)量。

符合標(biāo)準(zhǔn)

GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D645、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、DIN 53105、DIN 53353、JIS K6250、JIS K6328、JIS K6783、JIS Z1702、BS 3983、BS 4817

技術(shù)指標(biāo)

測(cè)量范圍：0～2mm（常規(guī)）

0～6mm；12mm（可選）

分 辨 率：0.1μm

測(cè)量速度：10次/min（可調(diào)）

測(cè)量壓力：17.5±1kPa（薄膜）；50±1kPa（紙張）

接觸面積：50mm2（薄膜）；200mm2（紙張）