光學(xué)三坐標(biāo)測(cè)量?jī)x是一種用于物理學(xué)、工程與技術(shù)科學(xué)基礎(chǔ)學(xué)科、機(jī)械工程領(lǐng)域的計(jì)量?jī)x器。以光學(xué)探頭、機(jī)械探針、激光測(cè)頭、光纖探頭多種測(cè)頭集成一體的小型多功能坐標(biāo)測(cè)量?jī)x器,實(shí)現(xiàn)精密標(biāo)準(zhǔn)機(jī)械件的2D,3D測(cè)量校準(zhǔn),以及光學(xué)標(biāo)準(zhǔn)尺的測(cè)量。
Werth光學(xué)三坐標(biāo)的特點(diǎn):
1.光學(xué)系統(tǒng)采用高精度遠(yuǎn)心光學(xué)。
2.在投射光和透射光狀態(tài)下,均可對(duì)復(fù)雜幾何元素,進(jìn)行自動(dòng) 圖形處理及測(cè)量。
3.全自動(dòng)多傳感器系統(tǒng)三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)。
4.空氣軸承導(dǎo)軌和精密大理石基座,使其具有較高性能。
5.可選配接觸式測(cè)頭、點(diǎn)激光、線激光、光纖、色敏(適用測(cè)量透明工件)各種傳感器及彩色CCD 圖像處理系統(tǒng)。
6.高速CNC測(cè)量控制系統(tǒng)。
7.采用高精度數(shù)字化自動(dòng)變焦,高倍率變換且無需重新標(biāo)定。