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            PZ-80W-一鍵式影像測量儀
            • PZ-80W-一鍵式影像測量儀

            貨物所在地:北京北京市

            更新時間:2025-04-16 10:27:47

            瀏覽次數(shù):124

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            ( 聯(lián)系我們,請說明是在 化工儀器網(wǎng) 上看到的信息,謝謝?。?/p>

            一鍵式影像測量儀取代了傳統(tǒng) X Y 坐標臺運動式測量方式, 開創(chuàng)了快速測量的理念。通過將遠心成像與智能圖像處理軟件的結(jié)合, 任何繁瑣的測量任務(wù), 都變得無比簡單。只需把工件放置載物臺, 然后輕輕按一鍵, 工件所有尺寸瞬間完成。

            一鍵式影像測量儀基于光學成像的尺寸測量儀器在制造領(lǐng)域應(yīng)用廣泛,傳統(tǒng)的光學尺寸測量儀器包括工具顯微鏡、投影儀、影像測量儀(二次元)等,都存在檢測效率低、人為操作誤差、人員技能要求高、數(shù)據(jù)難以信息化等各種問題。

            一鍵式影像測量儀特點

            穩(wěn)定快速:雙遠心光路結(jié)合圖像畸變校正、亞像素數(shù)值處理算法,實現(xiàn)高精度、高穩(wěn)定性尺寸測量;精密電動平臺配合可快速更換及實時調(diào)節(jié)的正面照明系統(tǒng),滿足用戶對復(fù)雜表面尺寸的準確測量。

            光學畸變校正:在高精度圖像尺寸測量應(yīng)用中,鏡頭畸變校正具重要意義,即使是細微的畸變,也會造成精度嚴重滑坡。只有真實的圖像才能真實地反映物體的真實形態(tài)。但是鏡頭畸變是透鏡的固有失真造成的,實際應(yīng)用中,還與鏡頭的精度、質(zhì)量、生產(chǎn)廠商有著種種關(guān)聯(lián),是不可避免的。通常的鏡頭畸變主要為非線性畸變,包括了徑向畸變和切向畸變。常見的桶形畸變和枕型畸變正是由徑向畸變所造成的。而切向畸變是理想點沿著切線方向發(fā)生變化導致的,也可以理解為角度方向上的變化。因此,本產(chǎn)品對基于非線性技術(shù)的光學系統(tǒng)畸變校正算法進行了研究,以提高測量精度以及測量效率。將非線性畸變參數(shù)作為相機的內(nèi)部參數(shù)之一,通過對初值的獲取,聯(lián)合其他的內(nèi)部參數(shù)一并在非線性深度優(yōu)化求解過程中獲得。利用得到的誤差補償函數(shù)的系數(shù)矩陣和徑向畸變參數(shù),實現(xiàn)鏡頭畸變的誤差校正,有效改善了鏡頭畸變造成的檢測誤差,滿足工業(yè)測量過程中的實時性和高精度要求。

            技術(shù)參數(shù)

             

            測量范圍(mm):180×150。

            調(diào)焦行程(mm):50。

            測量精度(μm):±10。

            重復(fù)精度(μm):±4。

            景深(mm):300

            光學系統(tǒng):500萬像素CCD;雙遠心工業(yè)鏡頭; 遠心平行背光源、LED環(huán)形正面光源。

            軟件:專機快速閃測Easson軟件。

            接口:GigE ×1(雙視野型號×2),RS 232 ×1,及其他可擴展接口。

            電源:AC 220V,50Hz。

            工作環(huán)境:溫度15-25℃;濕度30%-80%;振動<0.002g, 15Hz。

             檢查庫
            圍繞工藝的環(huán)境產(chǎn)生消極影響,必須通過幾個途徑降低到小,以滿足頭工作的要求。
            ● AOI檢查庫──對部分AOI制造商的標定工具進行調(diào)整是重要的,所以,這些變化能夠傳遞到照相機和照明模塊上。
            ● 對于不同產(chǎn)品的AOI檢查庫,有可能在當?shù)剡M行調(diào)整──這是AOI軟件*的特性。
            ● 貼片公差——進料器常規(guī)的維護和校準。
            ● 確定檢查質(zhì)量:IPC標準2級——必須允許使用朝下的電阻器。組件趐起和共面性的檢測必須可靠。
            關(guān)于元件長度公差,不同的組件供應(yīng)商、電路板和無鉛焊料的供應(yīng)商都不可能沒有任何直接的影響。優(yōu)良的AOI程序應(yīng)該能夠應(yīng)付這些這影響。如果這些個別點的變化可以保持不變,那么就能夠相當大地簡化AOI編程。經(jīng)研究得到的結(jié)論是,由于無鉛產(chǎn)生的影響,圖形對照系統(tǒng)無法得到適合的檢查結(jié)果,這是因為合格的樣品變化太大。更加可行的方法是,取出確定每道工藝和元件變化的特性。這些變化可以分成不同的等級。如果在現(xiàn)在使用的工藝中,出現(xiàn)了一個新的變化,就要增加一個級別,來保證檢查的性。所有認識到的和已知的缺陷都儲存起來,他們的類型和圖片可以用于AOI系統(tǒng)和數(shù)據(jù)庫里的檢查程序。我們沒有必要把一塊不同缺陷的電路板保存起來用于詳細的檢查。

             

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