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            影像儀測(cè)量誤差的產(chǎn)生

            閱讀:926      發(fā)布時(shí)間:2022-5-9
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            影像測(cè)量?jī)x是近十年來發(fā)展快速的幾何光學(xué)測(cè)量?jī)x器,它是一種基于光學(xué)投影原理,結(jié)合應(yīng)用現(xiàn)代光電技術(shù)和計(jì)算機(jī)處理技術(shù), 

            完成對(duì)試件邊緣輪廓進(jìn)行瞄準(zhǔn)來實(shí)現(xiàn)長度尺寸測(cè)量的二維平面坐標(biāo)位置測(cè)量?jī)x。

            該儀器能檢測(cè)各種形狀復(fù)雜工件的輪廓和表面形狀尺寸、角度及位置,特別是精密零部件的微觀檢測(cè)與質(zhì)量控制,

            適用于產(chǎn)品開發(fā)、逆向工程、品質(zhì)檢測(cè)等領(lǐng)域。比起傳統(tǒng)的工具顯微鏡和投影儀,

            在硬件上增加了CCD攝像傳感器、數(shù)顯化光柵位置輸出裝置及自動(dòng)定位伺服控制系統(tǒng),在測(cè)量或軟件功能上,

            具有自動(dòng)對(duì)焦、自動(dòng)瞄準(zhǔn)及各種復(fù)雜自動(dòng)計(jì)算處理特點(diǎn)。電子和圖像處理技術(shù)的發(fā)展應(yīng)用,

            為影像測(cè)量?jī)x的多功能、高精度和自動(dòng)化程度提供了關(guān)鍵的技術(shù)支撐作用。

            應(yīng)用于工廠現(xiàn)場(chǎng)測(cè)量的影像測(cè)量?jī)x,通常其分辨力為0.001mm,測(cè)量不確定度一般為(3+L/200)μm左右,

            其中L為測(cè)量長度(mm),應(yīng)用于精密計(jì)量、量值傳遞等高精度測(cè)量領(lǐng)域的影像測(cè)量?jī)x,測(cè)量不確定度一般優(yōu)于(1.0+L/300)μm。

             

            影像測(cè)量?jī)x的結(jié)構(gòu)組成及光學(xué)原理特點(diǎn)

            影像測(cè)量?jī)x一般由機(jī)械、照明、測(cè)長、圖像采集、計(jì)算機(jī)和測(cè)量軟件等六部分組成。

            影像測(cè)量?jī)x的光學(xué)原理與普通投影儀很類似,區(qū)別在于影像前者被測(cè)件的輪廓影像被CCD傳感器接收并由計(jì)算機(jī)進(jìn)行圖像采集和處理,

            后者則直接把影像投射到投影觀測(cè)屏,輪廓對(duì)準(zhǔn)有操作者的人眼完成,因而導(dǎo)致兩者測(cè)量精度和自動(dòng)化程度相差很大。

            影像測(cè)量?jī)x一般具有較大的測(cè)量范圍,通常配備有(0.7x~4.5x)的變焦物鏡,照明光源除了常見的底光和頂光外,還有環(huán)形照明光,

            適合于底光和頂光都不能有效照明時(shí)應(yīng)用。

             

            影像測(cè)量?jī)x的誤差來源

            在影像測(cè)量?jī)x上的測(cè)量均是單軸或二維平面坐標(biāo)的測(cè)量,測(cè)量時(shí)先對(duì)焦,后對(duì)準(zhǔn),再讀數(shù)(計(jì)數(shù)),最后計(jì)算處理。

            讀數(shù)來自于標(biāo)尺即光柵系統(tǒng),對(duì)焦對(duì)準(zhǔn)依靠顯微鏡光學(xué)系統(tǒng),還有一個(gè)直接影響測(cè)量效果和精度的照明光源,

            因?yàn)?基于影像方法測(cè)量的儀器,如果被測(cè)件不能被有效正確的照明,則測(cè)量的結(jié)果顯然要偏離其真實(shí)尺寸。

            除前述因素外,環(huán)境條件也是制約測(cè)量精度不可忽視的因素。

             

            基于上述分析,可以歸納出以下幾個(gè)方面的誤差來源:

            a、光柵計(jì)數(shù)尺的誤差;

            b、工作臺(tái)移動(dòng)時(shí)存在的直線度、角擺帶來的誤差;

            c、工作臺(tái)兩測(cè)量軸垂直度帶了的誤差;

            d、顯微鏡光軸與工作臺(tái)面不垂直帶了的誤差;

            e、測(cè)量室溫度帶來的誤差;

            f、光源照明條件的變化帶來的對(duì)焦和對(duì)準(zhǔn)誤差。

             

            在這幾種因素中,前四項(xiàng)誤差,是硬件誤差,在儀器制造過程中已經(jīng)形成并固定下來,

            一般無法改變;溫度影響帶來的誤差,通過控制測(cè)量室的溫度和等溫過程來減小其影響。

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