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            上海斯邁歐分析儀器有限公司>技術(shù)文章>5977B氣質(zhì)聯(lián)用儀GC/MS顯著改善半揮發(fā)性化合物的檢測(cè)限

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            5977B氣質(zhì)聯(lián)用儀GC/MS顯著改善半揮發(fā)性化合物的檢測(cè)限

            閱讀:968          發(fā)布時(shí)間:2022-1-3

            摘要:Agilent 5977B氣質(zhì)聯(lián)用儀GC/MSD高效離子源 (HES) 產(chǎn)生的信號(hào)更強(qiáng),在分析方法中可實(shí)現(xiàn)較大 靈活性。本應(yīng)用簡(jiǎn)報(bào)針對(duì)一系列目標(biāo)分析物給出了初步的儀器檢測(cè)限參考值,便于用戶 分析半揮發(fā)性有機(jī)化合物時(shí)建立適當(dāng)?shù)牟呗灶A(yù)期。結(jié)果表明多種化合物在掃描模式下均 可獲得皮克或亞皮克級(jí)檢測(cè)限。


            前言 半揮發(fā)性有機(jī)化合物 (SVOC) 是一大類會(huì)對(duì)環(huán)境產(chǎn)生持久影響的 全球性污染物。這些化合物被列在 USEPA 8270 與 525 方法等 GC/MS 方法以及其他類似方法的多種目標(biāo)分析物列表中。盡管 被列為目標(biāo)物并適用于 GC/MS 分析中的選擇離子監(jiān)測(cè) (SIM) 模 式進(jìn)行分析,但通過(guò)掃描模式 GC/MS 對(duì)樣品進(jìn)行研究仍具有一 些優(yōu)勢(shì),例如全掃描譜圖可用于化合物確認(rèn),此外還能初步鑒定 樣品中 SIM 模式無(wú)法識(shí)別的未知成分。在過(guò)去,相比 SIM 模式, 掃描模式靈敏度通常不足以滿足所需檢測(cè)限的要求。Agilent 5977B GC/MSD 的高效離子源 (HES) 采用革命性的離子源設(shè)計(jì), 大大提高了靈敏度,其分析 SVOC 的掃描模式檢測(cè)限可與 SIM 相 媲美。本應(yīng)用簡(jiǎn)報(bào)針對(duì)典型化合物類型中的幾種 SVOC 提供了初 步的儀器檢測(cè)限 (IDL) 結(jié)果。


            實(shí)驗(yàn)部分 針對(duì) SVOC 分析有各種配置與方法,但通用的配置是一根厚度適 用于載樣范圍的 5 相色譜柱。本實(shí)驗(yàn)是對(duì)化合物進(jìn)行初步研究, 因此采用此類分析中常用的 Agilent J&W DB-UI 8270D 超高惰性 氣相色譜柱(0.25 mm × 30 m,0.5 µm)。盡管數(shù)據(jù)說(shuō)明使用較 薄液膜的色譜柱可能更好,但采用該色譜柱仍獲得了較高上樣量。 使用二氯甲烷制備標(biāo)準(zhǔn)品,并在壓力脈沖不分流模式下采用 5 µL 進(jìn)樣針向雙細(xì)徑錐襯管中進(jìn)樣 0.5 µL。將 5 ng/mL 標(biāo)準(zhǔn)品重復(fù)進(jìn) 樣以測(cè)定每種化合物的 IDL。配備 5977B HES 的 Agilent 7890B GC 在 50 - 550 u 的掃描模式下運(yùn)行(采樣 4 次),根據(jù)工作濃度 范圍需要采用極低的增益因子 (0.1)。這一配置基本上可以視為在 保守模式下運(yùn)行以測(cè)定可能的 IDL 的標(biāo)準(zhǔn)配置。


            結(jié)果與討論 掃描數(shù)據(jù)的 IDL 估計(jì)值采用外標(biāo)法進(jìn)行計(jì)算,取 12 次總進(jìn)樣中的 8 次連續(xù)進(jìn)樣計(jì)算。將五次 IDL 測(cè)定結(jié)果的平均值作為 IDL 報(bào)告 值。如表 1 所示,亞皮克級(jí)檢測(cè)限較常見(jiàn),其中幾種化合物表現(xiàn) 出的皮克級(jí)檢測(cè)限主要由較低的化合物目標(biāo)離子響應(yīng)引起?;?物色譜也可在某些情形下發(fā)揮作用(例如苯并[b]熒蒽以及苯并[k] 熒蒽等等)。


            結(jié)論 顯而易見(jiàn),掃描模式下的化合物檢測(cè)已經(jīng)能夠檢測(cè)出此前僅能在 SIM 模式下測(cè)得的低含量。這一優(yōu)勢(shì)使分析人員可以研究和應(yīng)用 多種分析策略。本方法樣品用量少,獲得數(shù)據(jù)多,如需分析高濃 度化合物,可通過(guò)分流進(jìn)樣、縮短運(yùn)行時(shí)間來(lái)實(shí)現(xiàn)。上樣量低還 使得殘留在襯管、色譜柱等部件中的基質(zhì)量更少,大幅降低了色 譜維護(hù)需要,分析人員得以正常運(yùn)行更多分析。此外,本方法降 低了需要處理的樣品量,還能顯著減少前處理工作、節(jié)省成本。 這在樣品的采集運(yùn)輸以及溶劑的使用和處置方面均可節(jié)省大量時(shí) 間和成本。這些顯著降低的掃描 IDL 還表明 SIM IDL 將得到提升, 因此兩種策略結(jié)合后可最大限度提高分析的時(shí)間與成本效益。

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