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            硅橡膠的比熱測試--- 多種比熱計算方法比較

            閱讀:1038          發(fā)布時間:2020-9-16

            前言:硅橡膠是一種主鏈由硅氧原子交替組成、在硅原子上帶有有機基團的合成橡膠。分子中的有機基團可以是-CH3、-C2H3 或-C6H5 等,相應(yīng)稱作甲基、乙烯基或甲基苯基硅橡膠。硅橡膠是一種耐高低溫(-60~250℃)、耐臭氧化并具有良好電絕緣性能的特種橡膠,按加工工藝分類有高溫硫化型(硫化溫度 150~200℃)、室溫硫化型和加成型之分。高溫硫化硅橡膠大量用作苛刻條件下的電線、電纜絕緣層,密封件,醫(yī)療器械中的導(dǎo)管、插管、人工關(guān)節(jié)等。雙組分室溫硫化硅橡膠用于精密鑄造用彈性模具、牙科印模材料及航天器耐燒蝕涂料等,單組分室溫硫化硅橡膠用于電子器件的密封保護等。而加成型硅橡膠主要用于電子器件灌注涂覆,作光導(dǎo)纖維涂料,也是人體內(nèi)軟組織充填、顏面整形的理想材料。

            本文使用 NETZSCH 差示掃描量熱儀測量了未炭化硅橡膠與炭化硅橡膠在 RT. .. 600℃溫度范圍內(nèi)的比熱值。其中對未炭化硅橡膠在一次測試的基礎(chǔ)上分別使用比熱法與連續(xù)掃描法兩種方法進行比熱計算并作對比討論;對炭化硅橡膠分別使用連續(xù)掃描方法與步進掃描法兩種方法進行了測試,并作了數(shù)據(jù)比較與討論。

            測量原理比較法比熱測量原理:

            比較法是 DSC 上較常規(guī)的比熱測量方法。原理是根據(jù)方程 Q = Cp * m * HR,將已知 Cp 的標(biāo)樣(通常為藍寶石 Sapphire)與未知 Cp 的樣品進行對比性 DSC 測試,由于兩者的質(zhì)量 m 均為已知,升溫速率 HR 相同可約除,因此對比扣除基線后的 DSC 信號 Q,可計算得到樣品的 Cp 值及其隨溫度的變化。

            連續(xù)掃描法的比熱測量原理:* 連續(xù)掃描法(ISO11357-4、ASTM E1269、DIN51007)在比較法的基礎(chǔ)上進一步細化了測量設(shè)定,除了常規(guī)的基線扣除之外,還特別規(guī)定了在升溫段前后均需加上一個恒溫段,通過比較標(biāo)樣與樣品兩者在恒溫段的基線差異,進一步修正了由基線重復(fù)性、高溫?zé)彷椛湫?yīng)差異等因素引起的標(biāo)樣與樣品基線的不*一致所帶來的影響,提高了測量精度(特別對 600℃以上的高溫測試而言)。

            步進掃描法比熱測量原理:* 步進掃描法(ISO11357-4)比熱測量的原理是將待測的溫度段拆分成若干小的溫度區(qū)間,以步進恒溫的方式進行逐段掃描,為每一小段分別計算標(biāo)樣與樣品的峰面積△H,利用 H1 / H2 = (Cp1 * m1) / (Cp2 △ △ * m2),計算待測樣品的比熱值。

            實驗部分 1. 未炭化的硅橡膠 y 樣品稱重:15.05 mg y 溫度范圍:RT ... 400℃ y 升溫速率:10 K/min y 氣氛:N2 y 坩堝:Pt,加蓋 y Sapphire 標(biāo)樣:20.28 mg

            結(jié) 論 :

            1. 比較法與連續(xù)掃描法相比:比較法由于溫度程序與計算方法較為簡易,在日常測試中使用多。在溫度不太高(如< 600℃)、儀器基線穩(wěn)定的情況下,其測量結(jié)果在大多數(shù)情況下與連續(xù)掃描法結(jié)果較為接近,可以代替。在更高的溫度下,由于熱輻射與基線重復(fù)性帶來的影響越趨顯著,在樣品穩(wěn)定無分解、高溫下恒溫?zé)o技術(shù)障礙的情況下,則建議使用連續(xù)掃描方法以獲取更高的精度。

            2. 連續(xù)掃描法與步進掃描法相比:某些文獻報導(dǎo)步進掃描法精度更高,但從本文的測試實例看兩者結(jié)果較為接近,沒有明顯差異。由于步進掃描法步驟繁瑣、不論測量還是分析均需付出多得多的時間與人力,因此在無特殊要求的情況下,一般使用連續(xù)掃描法已足夠。相比步進掃描法,連續(xù)掃描方法(包括其簡化版比較法)的優(yōu)勢在于能夠在一次掃描中得到連續(xù)的比熱曲線。而步進掃描法使用的是逐段計算的方法,對于每一小的溫度段,得到的只是這一溫度段的比熱平均值,因此終得到的比熱結(jié)果是一些離散的數(shù)據(jù)點。如果要通過步進法得到連續(xù)的比熱曲線,又不希望借助數(shù)學(xué)擬合,那么只有將溫度段區(qū)間盡量縮?。ㄉ踔晾碚撋峡s至無窮?。?,而所需測量時間將成倍地增長(甚至理論上趨于無窮大),這在實際操作上是很難付諸實施的。另外,在樣品發(fā)生熱效應(yīng)的區(qū)間,不管是連續(xù)掃描法還是步進法實測數(shù)據(jù)都不再可靠。此時連續(xù)掃描法可在所得的連續(xù)曲線上按照基線走勢進行數(shù)學(xué)內(nèi)插,而步進恒溫法則無法處理,若使用數(shù)學(xué)內(nèi)插,由于源數(shù)據(jù)為離散的數(shù)據(jù)點,用于內(nèi)插的信息量較少,結(jié)果也未必可靠。

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