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AEMC 5070兆歐表/絕緣電阻測(cè)試儀特點(diǎn)與參數(shù)
AEMC 5070兆歐表/絕緣電阻測(cè)試儀?特點(diǎn)：
● 真正的兆歐計(jì)
● 測(cè)試電壓500V, 1000V, 2500V、5000V
● 絕緣測(cè)量從10kΩ 至10 TΩ
● 可調(diào)節(jié)和可編程測(cè)試電壓40 至 5100V
● 可編程的溫度補(bǔ)償?shù)碾娮枳x數(shù)
● DAR的自動(dòng)計(jì)算,PI和DD值
● 直接測(cè)量和顯示阻力、測(cè)試電壓、運(yùn)行時(shí),電容和漏電流
● 顯示電阻,測(cè)試電壓和運(yùn)行時(shí)間
● 可編程測(cè)試運(yùn)行時(shí)間和PI比率
● 報(bào)警功能
● 顯示自動(dòng)放電和放電電壓
● 大型雙顯示器隨顯示,電壓和測(cè)量
● 堅(jiān)固耐用的雙重防風(fēng)雨攜帶箱
● RS-232接口直接打印結(jié)果界面
● 128 kb內(nèi)存存儲(chǔ)現(xiàn)場(chǎng)試驗(yàn)數(shù)據(jù)
● 電腦遠(yuǎn)程操作
● 包括DataView軟件
AEMC 5070兆歐表/絕緣電阻測(cè)試儀?應(yīng)用：
● 測(cè)試絕緣電纜、變壓器、馬達(dá)、發(fā)電機(jī)、絕緣體和線路安裝
● 高阻或吸收測(cè)試
● 發(fā)現(xiàn)閱讀測(cè)試
● 定時(shí)電阻測(cè)量
● 介電吸收比率(DAR)和極化指數(shù)(PI)測(cè)試
● 多層絕緣測(cè)試(DD)
● 測(cè)試舊或水損壞設(shè)施長(zhǎng)時(shí)間運(yùn)行
● 電機(jī)絕緣電阻測(cè)量
● 電腦控制生產(chǎn)線測(cè)試
● 預(yù)見性維護(hù)將結(jié)果存儲(chǔ)在電腦的趨勢(shì)分析
● 用戶可選擇的電壓測(cè)試提供特定于應(yīng)用程序的測(cè)試
AEMC 5070參數(shù)：
交流/直流電壓測(cè)量 | |
范圍 | 1至4000V |
準(zhǔn)確性 | 1至99.9V：±（1％R + 5ct） |
分辨率 | 1至99.9V：0.1V |
頻率范圍 | 1至2500V：DC或15至500Hz |
輸入阻抗 | 750kΩ或3MΩ（取決于范圍） |
絕緣測(cè)量 | |
測(cè)試電壓/電阻范圍 | 500V: 30kΩ to 2TΩ |
測(cè)量精度 | 30kΩ至39.99GΩ：±（5％R + 3ct） |
可操作電壓 | 40至5,100V |
自動(dòng)放電 | 放電時(shí)間<7s / µF |
帶電電路指示器 | 如果端子電壓>測(cè)試電壓的3％，10％，20％（可由用戶選擇），則禁止測(cè)試 |
一般特征 | |
可編程警報(bào) | 是 |
DAR – PI – DD – R（t） | 是 |
斜坡模式 | 沒有 |
步進(jìn)模式 | 多5個(gè)步驟（每個(gè)步驟的電壓和持續(xù)時(shí)間均可配置） |
電容測(cè)量 | 0.005至49.99µf |
漏電流測(cè)量 | 0至3mA |
開路電壓 | ≤1.1 x Vn±2V（可變模式下Vn±2％） |
記憶 | 128kB內(nèi)存/存儲(chǔ)超過1500個(gè)測(cè)試結(jié)果 |
通訊 | 帶有USB適配器的串行端口RS-232 |
軟件 | DataView軟件（隨附） |
電源 | NIMH可充電電池組； |
電池壽命 | ≥1500次測(cè)試 |
充電時(shí)間 | 大約6小時(shí)（測(cè)試期間允許充電） |
尺寸 | 10.63 x 9.84 x 7.09英寸（270 x 250 x 180mm） |
重量 | 9.5磅（4.3千克） |
海拔高度 | 6562'（2000m） |
工作溫度 | -10°至+ 55°C（14°至+ 131°F）≤80％RH |
貯存溫度 | -40°至+ 158°F（-40°至+ 70°C）≤90％RH |
IP等級(jí) | IP 53 |
安全合規(guī) | EN 61010-1，EN 61557、1000V CAT III，污染等級(jí)2，CE |