測(cè)厚儀（thickness gauge）是用來測(cè)量材料及物體厚度的儀表。在工業(yè)生產(chǎn)中常用來連續(xù)或抽樣測(cè)量產(chǎn)品的厚度（如鋼板、鋼帶、薄膜、紙張、金屬箔片等材料）。

      測(cè)厚儀按照測(cè)量方式可分為接觸式和非接觸式。接觸式測(cè)厚儀通過儀器與樣品表面接觸測(cè)量，從而得知測(cè)量結(jié)果。而有些樣品的表面容易破壞不宜測(cè)量，則衍生出各種非接觸式測(cè)量方法。例如：激光測(cè)厚儀、超聲波測(cè)厚儀、涂層澤厚儀、X射線測(cè)厚儀、薄膜測(cè)厚儀。

1. 激光測(cè)厚儀

      利用激光的反射原理，根據(jù)光切法測(cè)量和觀察機(jī)械制造中零件加工表面的微觀幾何形狀來測(cè)量產(chǎn)品的厚度，是一種非接觸式的動(dòng)態(tài)測(cè)量儀器。它可直接輸出數(shù)字信號(hào)與工業(yè)計(jì)算機(jī)相連接，并迅速處理數(shù)據(jù)并輸出偏差值到各種工業(yè)設(shè)備。

    2. 超聲波測(cè)厚儀

      根據(jù)超聲波脈沖反射原理來進(jìn)行厚度測(cè)量的，當(dāng)探頭發(fā)射的超聲波脈沖通過被測(cè)物體到達(dá)材料分界面時(shí)，脈沖被反射回探頭，通過精確測(cè)量超聲波在材料中傳播的時(shí)間來確定被測(cè)材料的厚度。凡能使超聲波以恒定速度在其內(nèi)部傳播的各種材料均可采用此原理測(cè)量。

      適合測(cè)量金屬（如鋼、鑄鐵、鋁、銅等）、塑料、陶瓷、玻璃、玻璃纖維及其他任何超聲波的良導(dǎo)體的厚度。

     3.  涂層測(cè)厚儀

      采用電磁感應(yīng)法測(cè)量涂層的厚度。位于部件表面的探頭產(chǎn)生一個(gè)閉合的磁回路，隨著探頭與鐵磁性材料間的距離的改變，該磁回路將不同程度的改變，引起磁阻及探頭線圈電感的變化。利用這一原理可以精確地測(cè)量探頭與鐵磁性材料間的距離，即涂層厚度。

     4.  X射線測(cè)厚儀

      利用X射線穿透被測(cè)材料時(shí)，X射線的強(qiáng)度的變化與材料的厚度相關(guān)的特性，從而測(cè)定材料的厚度，是一種非接觸式的動(dòng)態(tài)計(jì)量儀器。它以PLC和工業(yè)計(jì)算機(jī)為核心，采集計(jì)算數(shù)據(jù)并輸出目標(biāo)偏差值給軋機(jī)厚度控制系統(tǒng)，達(dá)到要求的軋制厚度。

      主要應(yīng)用行業(yè):有色金屬的板帶箔加工、冶金行業(yè)的板帶加工。

     5. 薄膜測(cè)厚儀

      使用兩個(gè)激光傳感器安裝在被測(cè)物（紙張）上下方，將傳感器固定在穩(wěn)定的支架上，確保兩個(gè)傳感器的激光能對(duì)在同一點(diǎn)上。隨著被測(cè)物的移動(dòng)傳感器就開始對(duì)其表面進(jìn)行采樣，分別測(cè)量出目標(biāo)上下表面分別與上下成對(duì)的激光位移傳感器距離，測(cè)量值通過串口傳輸?shù)接?jì)算機(jī)，再通過我們?cè)谟?jì)算機(jī)上的測(cè)厚軟件進(jìn)行處理，得到目標(biāo)的厚度值。

適用于量程范圍內(nèi)的塑料薄膜、薄片、隔膜、紙張、箔片、硅片等各種材料的厚度精確測(cè)量?？梢詫?shí)現(xiàn)對(duì)紙張的非接觸式測(cè)量，避免對(duì)紙張?jiān)斐尚巫円鹫`差。測(cè)量精度達(dá)到微米級(jí)，是目前精度最高的測(cè)厚儀，并且可以在線測(cè)量。實(shí)現(xiàn)生產(chǎn)自動(dòng)化的閉環(huán)控制。