全自動沖擊缺口測量儀與沖擊投影儀的使用對比

赫鵬   深圳思邁科技技術(shù)有限公司

       沖擊試驗(yàn)對于沖擊試樣缺口要求嚴(yán)格，缺口的微小變化，都會引起試驗(yàn)結(jié)果出現(xiàn)誤差，為保證加工出的沖擊試樣缺口合格，缺口的加工質(zhì)量檢驗(yàn)是一個(gè)重要的控制手段。目前沖擊缺口測量的有兩種方式，種是傳統(tǒng)的投影儀比對；第二種，是全自動沖擊缺口測量儀，準(zhǔn)確測量缺口尺寸。

概述

     隨著國內(nèi)工業(yè)技術(shù)的發(fā)展，越來越多的行業(yè)已經(jīng)開始執(zhí)行夏比沖擊V型U型缺口沖擊試驗(yàn)方法， 日前國內(nèi)很多行業(yè)如（航空航天、船舶、鍋爐壓力容器、冶金和機(jī)械）等行業(yè)已普遍s使用夏比沖擊試驗(yàn)。根據(jù)目前國內(nèi)廣大用戶的實(shí)際需求和國標(biāo)GB/T229-2007《金屬材料夏比擺錘試驗(yàn)方法》ASTM E23中要求沖擊試樣缺口的要求而開發(fā)、開發(fā)的一種于檢查夏比沖擊V型U型沖擊試樣缺口加工質(zhì)量的光學(xué)儀器，是航空航天、船舶、鍋爐壓力容器、冶金和機(jī)械等部門理化實(shí)驗(yàn)室的*設(shè)備。滿足所有種類沖擊試樣缺口的的檢測。

    對于夏比沖擊V型缺口沖擊試驗(yàn)，由于試樣V型缺口要求嚴(yán)格（GB/T229-2007試樣缺口深2mm±0.075、45°角±2°且試樣缺口要求R0.25±0.025mm）（ASTM E23試樣缺口深2mm±0.025、45°角±1°且試樣缺口要求R0.25±0.025mm），故在整個(gè)試驗(yàn)過程中，試樣的V型缺口加工是否合格成了關(guān)鍵問題，如果試樣缺口的加工質(zhì)量不合格，那么其試驗(yàn)的結(jié)果是不可信的，特別是R0.25mm缺口的微小變化（其公差帶只有0.025mm），都會引起試驗(yàn)結(jié)果的偏差，尤其是在試驗(yàn)的臨界值時(shí)會引起產(chǎn)品報(bào)廢或合格兩種截然相反的結(jié)果。為保證加工出的夏比沖擊V型缺口合格，其缺口的加工質(zhì)量檢驗(yàn)是一個(gè)重要的質(zhì)量控制手段。用光學(xué)測量檢查是切實(shí)可行并能保證檢查質(zhì)量的方法。TOP-IG是我公司根據(jù)GB/229-2007《金屬材料夏比缺口沖擊試驗(yàn)方法》、ASTM E23中沖擊試樣缺口的要求與廣大用戶的實(shí)際需求而設(shè)計(jì)、開發(fā)的一種于檢查夏比沖擊V型和U型試樣缺口加工尺寸的光學(xué)測量儀器。

原理

    種：傳統(tǒng)的沖擊缺口投影儀，主要通過將被測試樣缺口投影到帶有模板刻度的屏上，然后調(diào)整被測試樣高度、左右等與帶有刻度的模板進(jìn)行對比，判定沖擊缺口尺寸是否合格。

    第二種，全自動沖擊缺口測量儀，主要通過的光學(xué)系統(tǒng)，將被測試樣缺口，采集到電腦顯示器上，通過SMTMeasSystem_IG測量系統(tǒng)，通過特用的像素解析技術(shù)，以及的光學(xué)系統(tǒng)，將被測試樣缺口清晰輪廓顯示到顯示器上，再通過*的技術(shù)自動捕捉輪廓，自動測量缺口尺寸。試樣擺放需刻意擺放試樣，只要將缺口放置視頻區(qū)范圍內(nèi)就可以。缺口測量只需兩部完成，擺放試樣——測量缺口。一切測量、捕捉都是系統(tǒng)自動完成，1個(gè)人測量結(jié)果和100個(gè)測量結(jié)果一樣。實(shí)現(xiàn)無人為因素影像。

產(chǎn)品優(yōu)點(diǎn)與缺點(diǎn)

    種傳統(tǒng)沖擊缺口投影儀，主要的優(yōu)點(diǎn)是價(jià)格是便宜，缺點(diǎn)是測量結(jié)果受人為影像很大，都不高。測量數(shù)據(jù)無法保存，日后無法進(jìn)行核查。

    第二種，全自動沖擊缺口測量儀，缺點(diǎn)就是價(jià)格相對比較高，優(yōu)點(diǎn)，測量*不受人為因素影響，測量精度高（0.001mm），測量數(shù)據(jù)可以以word、EXCEL、jpg等格式保存，日后核查或仲裁都可以進(jìn)行復(fù)查測量。

適用行業(yè)

     沖擊缺口測量分析儀適用于廣大冶金、航空航天、兵器、船舶、壓力容器、和工程機(jī)械制及科研等部門理化實(shí)驗(yàn)室的*設(shè)備。

    該儀器還可用于機(jī)械零部件的外形輪廓、角度、半徑、長度、紡織物纖維、生物切片分析、工量刃具的檢驗(yàn)、儀表元件和半導(dǎo)體元件的測量檢測。滿足標(biāo)準(zhǔn)GB/T 229-2007 ASTM E23-2002a等技術(shù)要求。

 

技術(shù)參數(shù)

1、 放大倍數(shù)：50倍；

2、 視場范圍：20mm；

3、 工作臺尺寸：

方工作臺：300×200mm

4、 儀器放大倍率：100倍

5、測量精度

    分辨率：0.001mm

6、 光源（機(jī)器視覺裝用LED）：5v8W；

7、 電源：220V/10W；

8、 外形尺寸：200×300×350mm（長×寬×高）；

9、重量：約5kg。