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            上海西努光學(xué)科技有限公司

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            掃描電子顯微鏡的功能及用途說明

            閱讀:6473      發(fā)布時間:2020-4-10
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               掃描電子顯微鏡的功能及用途說明
              掃描電子顯微鏡主要由七大系統(tǒng)組成,即電子光學(xué)系統(tǒng)、信號探測處理和顯示系統(tǒng)、圖像記錄系統(tǒng)、樣品室、真空系統(tǒng)、冷卻循環(huán)水系統(tǒng)、電源供給系統(tǒng)。制樣簡單、放大倍數(shù)可調(diào)范圍寬、圖像的分辨率高、景深大、保真度高、有真實的三維效應(yīng)等,對于導(dǎo)電材料,可直接放入樣品室進(jìn)行分析,對于導(dǎo)電性差或絕緣的樣品則需要噴鍍導(dǎo)電層。
              具體功能用途歸納如下:
              1、掃描電鏡追求固體物質(zhì)高分辨的形貌,形態(tài)圖像-形貌分析(表面幾何形態(tài),形狀,尺寸);
              2、顯示化學(xué)成分的空間變化,基于化學(xué)成分的相鑒定-化學(xué)成分像分布,微區(qū)化學(xué)成分分析;
              3、利用背散射電子衍射信號對樣品物質(zhì)進(jìn)行晶體結(jié)構(gòu)(原子在晶體中的排列方式),晶體取向分布分析,基于晶體結(jié)構(gòu)的相鑒定。
              4、掃描電子顯微鏡在半導(dǎo)體器件研究中的特殊應(yīng)用:
              1)利用電子束感生電流進(jìn)行成像,可以用來進(jìn)行集成電路中的定位和損傷研究。
              2)利用樣品電流成像,結(jié)果可顯示電路中金屬層的開、短路,因此電阻襯度像經(jīng)常用來檢查金屬布線層、多晶連線層、金屬到硅的測試圖形和薄膜電阻的導(dǎo)電形式。
              3)利用二次電子電位反差像,反映了樣品表面的電位,從它上面可以看出樣品表面各處電位的高低及分布情況,特別是對于器件的隱開路或隱短路部位的確定尤為方便。
              如今,掃描電子顯微鏡已成為現(xiàn)代科學(xué)技術(shù)中*的重要工具、加速電子的電壓和所希望獲得的分辨率決定樣本的厚度。樣本的厚度可以從數(shù)納米到數(shù)微米不等。原子量越高、電壓越低、電子透鏡、樣品架、熒光屏和探測器等部件,一般在數(shù)千伏到3百萬伏特之間。它能發(fā)射并形成速度均勻的電子束,所以加速電壓的穩(wěn)定度要求不低于萬分之一。

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