實(shí)驗(yàn)名稱：納米粒子摻雜對響應(yīng)時(shí)間的影響

　　測試設(shè)備：高壓放大器、信號發(fā)生器、示波器、熱臺控制器、衰減器、探測器等。

　　實(shí)驗(yàn)過程：

　　圖1：VAN盒響應(yīng)時(shí)間的測量裝置

　　響應(yīng)時(shí)間也是影響液晶顯示圖像殘留的重要參數(shù)，響應(yīng)時(shí)間越短越不容易產(chǎn)生圖像殘留。實(shí)驗(yàn)中測量響應(yīng)時(shí)間的裝置如圖1所示，光源為632.8nm的紅色激光，光源經(jīng)過衰減器、可調(diào)光闌、偏振片和λ/4波片后成圓偏振光，經(jīng)過起偏器后成線偏振光，起偏器與檢偏器的光軸方向成90°，熱臺控制液晶盒的溫度為28°C。信號發(fā)生器輸出1kHzAC方波信號和DC信號的組合波形，組合波形的周期為2s，經(jīng)高壓放大器放大后施加在液晶盒上。當(dāng)電壓超過液晶盒閾值電壓后，探測器會檢測到光強(qiáng)的變化并傳輸?shù)绞静ㄆ魃希ㄟ^示波器可以觀察到液晶的動態(tài)響應(yīng)過程。

　　實(shí)驗(yàn)結(jié)果：

　　圖2：不同摻雜濃度γ-Fe2O3納米粒子與負(fù)性LC混合物在VAN盒中的下降和上升時(shí)間

　　圖3：不同摻雜濃度與響應(yīng)時(shí)間的關(guān)系（a）歸一化透過率與下降時(shí)間的關(guān)系；（b）歸一化透過率與上升時(shí)間的關(guān)系；（c）下降時(shí)間與摻雜濃度的關(guān)系；（d）上升時(shí)間與摻雜濃度的關(guān)系

　　實(shí)驗(yàn)測得的不同摻雜γ-Fe2O3納米粒子濃度對響應(yīng)時(shí)間的影響如圖2所示，由圖可知納米粒子摻雜對響應(yīng)時(shí)間有一定的影響。圖3（a）和圖3（b）分別給出了下降時(shí)間和上升時(shí)間的放大圖，其中下降時(shí)間為去電壓過程，上升時(shí)間為加電壓過程；由圖3（c）和圖3（d）可以看出上升時(shí)間和下降時(shí)間均隨摻雜濃度的增加先降低后升高，并在摻雜濃度為0.034wt%時(shí)達(dá)到低值，在摻雜濃度為0.034wt%時(shí)，下降時(shí)間可以縮短8.11%，上升時(shí)間可以縮短15.49%。SRDCV與響應(yīng)時(shí)間隨γ-Fe2O3納米粒子摻雜變化規(guī)律一致，說明γ-Fe2O3納米粒子的摻雜有效改善了VAN顯示模式的圖像殘留現(xiàn)象。

　　?高壓放大器推薦：ATA-7015

　　圖：ATA-7015高壓放大器指標(biāo)參數(shù)

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