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篤摯儀器（上海）有限公司
主營產品： 美能達色差計,尼克斯測厚儀,三維掃描儀,byk光澤度儀,api激光干涉儀,涂鍍層測厚儀,防夾力測試儀 |
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2025-4-22 閱讀(113)
x 射線熒光鍍層測厚儀德國菲希爾 FISCHERSCOPE X-RAY XDLM237，也稱為 X 射線熒光鍍層測厚及材料分析儀，采用手動或自動方式，可對微小結構的印刷線路板、電氣元件及大規(guī)模生產的零部件上的鍍層進行測量和分析。
菲希爾X射線測厚儀FISCHER X-RAY XDLM237典型應用領域
測量大規(guī)模生產的電鍍零部件
測量微小區(qū)域上的薄鍍層
測量電子工業(yè)或半導體工業(yè)中的功能性鍍層
全自動測量，如測量印刷線路板
設計理念
FISCHERSCOPE X-RAY XDLM237 設計為界面友好的臺式測量儀器系列，具備以下特性：
工作臺與升降系統(tǒng)：配備馬達驅動的 X/Y 工作臺，保護門開啟時，工作臺自動移至樣品放置位置；擁有馬達驅動的可編程 Z 軸升降系統(tǒng)。
定位輔助：高分辨率的彩色視頻攝像頭便于定位測量位置，配備的激光點可輔助定位并快速對準測量位置。
樣品適應性：測量箱底部的開槽專為面積大且形狀扁平的樣品設計，能測量比測量箱更長、更寬的樣品，例如大型的印制電路板。
樣品擺放與測量調整：帶有放大功能和十字線的集成視頻顯微鏡，簡化樣品擺放，同時允許測量點的調整。
