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高低溫環(huán)境試驗箱的校準(zhǔn)方法
高低溫環(huán)境試驗箱的三種校準(zhǔn)方法
高低溫環(huán)境試驗箱有（高低溫箱、高低溫試驗箱、高低溫濕熱試驗箱、高低溫交變實(shí)驗箱、高低溫濕熱交變試驗箱、恒溫恒濕箱、恒溫恒濕試驗機(jī)）適用于電工、電子、儀器儀表及其它產(chǎn)品、零部件及材料在高低溫交變濕熱環(huán)境下貯存、運(yùn)輸、使用時的適應(yīng)性試驗； 是各類電子、電工、電器、塑膠等原材料和器件進(jìn)行耐寒、耐熱、耐濕、耐干性試驗及品管工程的可靠性測試設(shè)備； 特別適用于光纖、LCD、晶體、電感、PCB、電池、電腦、手機(jī)等產(chǎn)品的耐高溫、耐低溫、耐潮濕循環(huán)試驗。
為了確保環(huán)境試驗性的度，我們往往需要對其的性能進(jìn)行校準(zhǔn)。目前在校準(zhǔn)的過程中，主要可以采用三種不同的方法。在實(shí)際進(jìn)行校準(zhǔn)的時候，我們需要根據(jù)實(shí)際情況選擇其中一種zui為適合的方法對環(huán)境試驗箱進(jìn)行校準(zhǔn)。
而想要保證選擇的正確性，我們需要先對這三種不同的校準(zhǔn)方法進(jìn)行適當(dāng)?shù)牧私猓绕湟獙Ω髯缘膬?yōu)缺點(diǎn)進(jìn)行分析和研究。下面我們就針對環(huán)境試驗箱常用的這三種不同的校準(zhǔn)方法的優(yōu)缺點(diǎn)進(jìn)行介紹：
*種校準(zhǔn)方法主要是在零負(fù)載的情況下進(jìn)行校準(zhǔn)。相比較來說，這種方法的主要優(yōu)點(diǎn)為：能夠?qū)Νh(huán)境箱的整個工作區(qū)域進(jìn)行校準(zhǔn)，能夠?qū)Νh(huán)境試驗箱的適用性做出有效的評估。而且在更換測試樣品之后，不需要重新進(jìn)行校準(zhǔn)。
那么，這種校準(zhǔn)方法的缺點(diǎn)是什么呢？主要包括一點(diǎn)，就是我們無法及時得知測試樣品會對環(huán)境試驗箱的性能產(chǎn)生怎樣的影響。第二種校準(zhǔn)方法是在有負(fù)載的情況下進(jìn)行校準(zhǔn)。
相比較而言，這種校準(zhǔn)方法的優(yōu)點(diǎn)非常明顯，主要包括：其能夠較為準(zhǔn)確的檢測出所用測試樣品對環(huán)境試驗箱性能的影響，而且便于得到測試樣品關(guān)鍵部位的環(huán)境試驗的詳細(xì)信息。當(dāng)然，這種方法也有缺點(diǎn)，比如在更換測試樣品之后需要重新進(jìn)行校準(zhǔn)。
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