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1  目的與適用范圍

1.1  本方法適用于測定集料的平均厚度，用于碎石封層等計算確定集料撒布量或瀝青 結(jié)合料用量。

1.2  厚度儀法適用于直接測定各規(guī)格集料平均厚度。

1.3  片狀儀適用于間接測定4.75mm通過率不大于15%集料平均厚度。

2  儀具與材料

2.1  厚度儀：兩塊厚度不小于5mm、寬度不小于10mm 的金屬板，兩塊金屬板通過夾具 固定，使兩塊金屬板平行、且板間隙在0~30mm 可調(diào)。高度分別為2mm 、3mm…27mm 的 高度塊，共計26塊，精度為0.2mm, 可采用內(nèi)徑游標卡尺代替高度塊，也可采用滿足本試

驗要求的其他形式厚度儀。

2.2  片狀儀：鋼質(zhì)基板厚度3mm, 基板上有5個槽孔，孔長度不小于50mm, 寬度應(yīng)符

合表T0367-1 的要求。

表T0367-1粒級劃分及其相應(yīng)的片狀儀孔寬度

2.3  天平：感量不大手試樣質(zhì)量的0.1%.

2.4  試樣篩：我為2,36mm、4.25mm 、6.3mm 、9.5mm 、16mm 、19mm、26.5mm 方孔篩，

相關(guān)要求同T0302  中2.1。

3  厚度儀試驗步驟

3.1  將來樣用2.36mm 、26.5mm試驗篩仔細過篩，取2.36～26.5mm 顆粒不少于100

顆為一份試樣。

3.2  采用高度塊或游標卡尺控制，調(diào)整厚度儀間隙為2mm, 將試樣逐粒進行檢驗，記

錄通過該間隙的顆粒個數(shù)，記為n?, 其顆粒厚度a?  為1 . 5mm; 收集未通過間隙的顆粒。

3.3  調(diào)整厚度儀間隙為3mm, 按照3.2方法再逐粒進行檢驗，記錄通過該間隙的顆粒 個數(shù)，記為n?, 其顆粒厚度a?  為2 . 5mm; 收集未通過間隙的顆粒。

3.4     重復(fù)以上步驟，直至測定厚度儀間隙為27mm, 記錄通過該間隙的顆粒個數(shù)，記為

nz?,其顆粒厚度az?為26.5mm. 此時應(yīng)再無剩余顆粒。

4 片狀儀法測定平均厚度試驗步驟

4.1 將來樣用4.75mm試驗篩仔細過篩，取篩上試樣縮分至表T0367-2 要求質(zhì)量的試 樣一份，烘干或室內(nèi)風干后備用。

表T0367-2   片狀儀法測定平均厚度試驗所需的試樣質(zhì)量

4.2 稱量一份試樣質(zhì)量(m?),  根據(jù)表T0367-1 所規(guī)定的粒級按T0302  干篩法進行充 分篩分。

4.3 按表T0367-1 所規(guī)定的粒級分別用片狀儀逐粒檢驗，凡顆粒厚度小于片狀規(guī)準 儀上相應(yīng)孔寬的，為片狀顆粒。

4.4 稱出由各粒級挑出的片狀顆粒的總質(zhì)量(mi)。

4.5 按 T0302 方法取樣測定樣品的級配，繪制篩孔-通過率曲線，從圖中確定50%通

過率對應(yīng)的篩孔為集料的中位粒徑應(yīng)，精確至0.1mm。

5  計算

5.1  厚度儀法測定的集料平均厚度按式(T0367-1)  計算，精確至0.1mm。

(T 0367-1)

式中：ALD—集料平均厚度(mm);

n_   第 i個間隙通過的集料顆粒數(shù)；

a?——第 i 個間隙對應(yīng)平均厚度，為相鄰間隙平均值(mm)。

5.2   片狀顆粒含量按式(T0367-2) 計算，精確至0.1%。

(T 0367-2)

式中：FI——片狀顆粒含量(%);

m—— 試樣中片狀顆粒的總質(zhì)量(g);

m?——試樣總質(zhì)量(g)。

5.3  片狀儀法測定的集料平均厚度按式(T0367-3) 計算，精確至0.1mm。

式中：M,——集料的中位粒徑(mm)。

6  報告

6.1  試驗項目名稱、試驗方法和執(zhí)行標準。

6.2  樣品的編號、名稱、產(chǎn)地和規(guī)格。

6.3  接樣日期、樣品描述。

6.4  試驗日期、樣品縮分方法。

6.5  平均厚度、片狀顆粒含量、中位粒徑試驗結(jié)果。

6.6  要說明的其他內(nèi)容。

條文說明

1.1  平均厚度是碎石封層確定集料撒布率、瀝青結(jié)合料用量的重要指標，針片狀顆 粒含量、破裂顆粒含量和棱角性試驗是評價粗集料顆粒形狀的三個指標，是反映集料加工

特性的重要指標。

1.2  厚度儀法是直接測定各顆粒的大致厚度，然后計算厚度的算術(shù)平均值。此方法

為集料平均厚度試驗標準方法。

1.3一片狀儀法是先測定片狀顆粒含量和級配中位粒徑，通過統(tǒng)計回歸公式計算集料 平均厚度。其測定片狀顆粒含量與 T0311  方法類似，但是確定片狀的標準不同，T0311  中片狀顆粒是指最大厚度與該顆粒相應(yīng)粒級的平均粒徑之比小于0.4的顆粒；本方法中 片狀顆粒是指最大厚度與該顆粒相應(yīng)粒級的平均粒徑之比小于0.6的顆粒。