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            東莞市博流機電設(shè)備有限公司>>技術(shù)文章>>E+H超聲波物位計對介質(zhì)環(huán)境及測量的影響

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            E+H超聲波物位計對介質(zhì)環(huán)境及測量的影響

            閱讀:714        發(fā)布時間:2018-3-15

            E+H超聲波物位計

            廣泛用于各行業(yè)中液體,氣體和蒸汽的體積流量測量。如過熱蒸汽,飽和蒸汽,壓縮空氣,氮氣,液化氣,廢氣,二氧化碳,軟化水,溶劑,鍋爐供水,冷凝物等等。蒸汽系統(tǒng)的質(zhì)量或熱量運算可以通過渦街流量計配壓力測量、溫度測量以及計算儀構(gòu)成的能量測量系統(tǒng)準(zhǔn)確測量,有效節(jié)能,減少成本。

            E+H超聲波物位計的影響

            (1)介質(zhì)及環(huán)境溫度的影響

            超聲波從物料表面反射時,其反射頻率會受到物料溫度的影響而發(fā)生變化,為了補償這一變化,超聲波探頭內(nèi)裝有溫度傳感器,當(dāng)探頭向處理器發(fā)送反射信號的同時,也把溫度信號送到微處理器,處理器將自動補償由于溫度對料位測量的影響。

            此外,為了保證探頭的可靠工作,要求環(huán)境溫度不超過60℃。

            (2)攪拌器對E+H超聲波物位計測量的影響

            如果物料容器內(nèi)裝攪拌器,它同樣會反射超聲波信號,造成假反射回波,并被傳送到微處理器。微處理器將根據(jù)統(tǒng)計學(xué)原理處理真假面具回波,所以要求超聲波從物料表面反射的回波應(yīng)至少為從攪拌器臂反射的回波的3倍。適當(dāng)降低攪拌器的轉(zhuǎn)速,或?qū)⑻筋^偏離攪拌中心,都可以有效消除攪拌器產(chǎn)生的假面反射對料位測量的影響。

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