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            目錄:北京精科智創(chuàng)科技發(fā)展有限公司>>光電學(xué)測試系統(tǒng)>> TF Analyzer 2000E鐵電壓電分析儀

            TF Analyzer 2000E鐵電壓電分析儀
            • TF Analyzer 2000E鐵電壓電分析儀
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            參考價 面議
            具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)
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            • 品牌 其他品牌
            • 型號
            • 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)商
            • 所在地 北京市
            屬性

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            >

            更新時間:2025-04-21 11:08:12瀏覽次數(shù):1563評價

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            應(yīng)用領(lǐng)域 電子/電池,鋼鐵/金屬,航空航天,電氣
            TF ANALYZER 2000E是一款擴(kuò)展性的模塊化鐵電壓電分析儀,具備鐵電、壓電、熱釋電材料所有基本特性測試功能,可與激光干涉儀和SPM掃描探針顯微鏡等微位移傳感器聯(lián)用,可廣泛地應(yīng)用于如各種鐵電/壓電/熱釋電薄膜、厚膜、體材料和電子陶瓷、鐵電傳感器/執(zhí)行器/存儲器等領(lǐng)域的研究。

            鐵電壓電分析儀 TF Analyzer 2000E

            TF2000.png


            TF ANALYZER 2000E是一款擴(kuò)展性的模塊化鐵電壓電分析儀,具備鐵電、壓電、熱釋電材料所有基本特性測試功能,可與激光干涉儀和SPM掃描探針顯微鏡等微位移傳感器聯(lián)用,可廣泛地應(yīng)用于如各種鐵電/壓電/熱釋電薄膜、厚膜、體材料和電子陶瓷、鐵電傳感器/執(zhí)行器/存儲器等領(lǐng)域的研究。

            模塊化設(shè)計(jì)的TF Analyzer 2000 E具有優(yōu)異的擴(kuò)展性。

            · FE模塊-鐵電標(biāo)準(zhǔn)測試;

            · MR模塊-磁阻和鐵性材料測試;

            · RX模塊-弛豫電流測試;

            · DR模塊-自放電測試。

            測試基本單元:包括內(nèi)置完整的專用計(jì)算機(jī)主機(jī)和測試版路、運(yùn)算放大器、數(shù)據(jù)處理單元等,Windows 7 操作系統(tǒng)、鐵電分析儀專用測試軟件等。

            FE模塊標(biāo)準(zhǔn)測試功能:
            Dynamic Hysteresis 動態(tài)電滯回線測試頻率(標(biāo)準(zhǔn)FE模塊0.001Hz~5kHz); 
            Static Hysterestic 靜態(tài)電滯回線測試; 
            PUND 脈沖測試;
            Fatigue 疲勞測試;
            Retention 保持力;
            Imprint 印跡;
            Leakage current漏電流測試;
            Thermo Measurement 變溫測試功能。

            FE模塊可選測試功能:
            C-V curve電容-電壓曲線; 
            Piezo Measurement壓電性能測試; 
            Pyroelectric Measurement熱釋電性能測試; 
            In-situ Compensation 原位補(bǔ)償;
            DLCC 動態(tài)漏電流補(bǔ)償功能。

            技術(shù)說明:
            電壓范圍: +/- 25 V(可選的附加高壓放大器可擴(kuò)展至+/- 10KV); 
            電滯頻率:5 kHz(標(biāo)準(zhǔn)FE模塊);
            最小脈沖寬度:2 μs;
            最小上升時間:1 μs
            電流放大范圍:1pA1A;
            最大負(fù)荷電容:1μF
            輸出電流峰值:+/-1 A。

            可擴(kuò)展部件:
            高壓放大器、激光干涉儀、AFM、溫度控制器、薄膜探針冷熱臺、變溫塊體樣品盒、塊體變溫爐、薄膜e31測試平臺、超導(dǎo)磁體、PPMS等。

            多磁圖.png



            MR模塊是用來研究磁阻和鐵性材料的。
            此模塊提供連續(xù)電流激勵和測試,樣品上的電壓降通過高精度四點(diǎn)測試。

            RX模塊是用來研究介電體和鐵電材料的極化和去極化電流的,即施加電壓階躍后的電流響應(yīng)。
            該測試能將材料的馳豫電流和漏電流分開,并可記錄極化響應(yīng)電流和去極化響應(yīng)電流。

            DR模塊用于研究電介質(zhì)材料的自漏電性。
            由于測試條件非常接近實(shí)際情況,因此通過這種方式可容易地測試應(yīng)用于DRAM材料的合適性。

            針對工業(yè)方面的應(yīng)用,TF Analyzer 2000E提供了256個自動測試的通道,大大擴(kuò)展了該儀器的測試功能。

            以上所有的模塊可根據(jù)您的測試需求以及科研方向進(jìn)行獨(dú)立選擇或者任意組合。

             


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