從毫米到納米的超大范圍觀察和測量自由切換多種顯微鏡觀察模式

OLYMPUS LEXT OLS4500是結(jié)合了傳統(tǒng)光學顯微鏡、激光掃描顯微鏡（LSM）以及掃描探針顯微鏡（SPM）功能的一體機。LEXT OLS4500可以滿足不同樣品的觀測需求，是一臺新時代的觀察、測量裝置。

LEXT OLS4500可以輕松實現(xiàn)從毫米到納米的觀察和測量，放大倍率由幾十倍到高達百萬倍。找到觀測目標（觀察對象）后，您可以在光學顯微鏡模式、激光顯微鏡模式和探針顯微鏡模式之間自由切換，而不用擔心目標丟失。并且您可以使用探針顯微鏡迅速而正確的完成觀察，大大縮短了獲取影像的時間。這些便是OLS4500一體機的自由操作帶給您的益處。

更加方便、更加順利地完成超大范圍觀察和測量。
實現(xiàn)了自由切換操作的LEXT OLS4500，閃亮登場。

OLS4500 納米檢測顯微

? OLS4500 納米檢測顯微光學顯微鏡的原理和特長

? OLS4500 納米檢測顯微激光顯微鏡的原理和特長

可進行亞微米級觀察和測量的激光顯微鏡（LSM: Laser Scanning Microscope)

光學顯微鏡的平面分辨率很大程度取決于光的光子和波長，采用短波長的激光顯微鏡（LSM） 比采用可見光的傳統(tǒng)顯微鏡，擁有更高的平面分辨率。 LEXT OLS4500采用405nm的短波長半導體激光、高數(shù)值孔徑的物鏡、以及*的共焦光學系統(tǒng)，可以達到0.12μm的平面分辨率。此外，OLS4500配有奧林巴斯*的掃描加掃描型2D掃描儀，可以實現(xiàn)高達4096×4096像素的高精度XY掃描。

的Z軸測量

? 探針顯微鏡的原理和特長

可以觀察納米級微觀世界的探針顯微鏡(SPM: Scanning Probe Microscope)

通過微懸臂掃描進行納米級觀察 OLS4500上采用了光杠桿法——通過高靈敏度檢測出zui前端裝有探針的微懸臂的微小彎曲量（位移）來進行觀測的方法。在懸臂的背面反射激光，并用壓電元件驅(qū)動Z軸，使激光照射到光電檢測器的位置，從而正確讀取Z方向的微小位移。	SPM傳感器光路圖
多種觀察模式在影像中呈現(xiàn)表面形狀和物性 探針顯微鏡擁有多種觀察模式，可以觀察、測量樣品表面的形狀，還可以進行物性分析。OLS4500配有以下模式。 ● 接觸模式 ： 在影像中呈現(xiàn)表面形狀（較硬的表面) ● 動態(tài)模式 ： 在影像中呈現(xiàn)表面形狀 (較軟的表面，有粘性的表面) ● 相位模式 ： 在影像中呈現(xiàn)樣品表面的物性差 ● 電流模式* ： 檢測出探針和樣品之間的電流并輸出圖像 ● 表面電位模式(KFM) *    ： 在影像中呈現(xiàn)樣品表面的電位 ● 磁力模式(MFM)* ： 在影像中呈現(xiàn)樣品表面的磁性信息 *該模式為選項功能。	高分子薄膜

決定高精細度、高質(zhì)量影像的微懸臂

探針位于長度約100μm~200μm的薄片狀微懸臂的前端。您可以根據(jù)樣品選擇不同的彈簧常數(shù)、共振頻率。反復掃描會磨損探針，所以請根據(jù)需要定期更換微懸探針。