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            北京新興日祥科技發(fā)展有限公司>>技術文章>>相控陣檢測內壁腐蝕試驗

            相控陣檢測內壁腐蝕試驗

            閱讀:789        發(fā)布時間:2020-3-11

            導語:

                 本文是以前做過的一個試驗,現(xiàn)場有一 處容器需要測定腐蝕情況,測腐蝕我們傳統(tǒng)的方式是采用測厚儀,在現(xiàn)場工件上畫格子線進行單點測厚,本次業(yè)主要求測厚需要采用可記錄的方式,何為可記錄方式?理解可記錄至少檢測結果可存儲、檢測位置可追溯。小編想采用相控陣檢測會是什么效果,于是采用相控陣進行試驗,下面是試驗結果。

            一、試驗準備:

            1、檢測系統(tǒng)

            設備:OLYMPUS OmniScan MX2;

            探頭:5L16-A10;

            楔塊:0L-A10;

            編碼器:mini編碼器

            2、采用試塊

            階梯平底孔試塊(φ8mm平底孔),結構形式見圖1:

            圖1.階梯試塊結構形式

            二、試驗過程及檢測結果

             1、首先對設備探頭進行及楔塊進行選擇(相控陣設備內置一些探頭及楔塊的參數(shù),需要根據(jù)實際應用的型號選擇,確保定位、定量的準確性。如設備中無內置信息需要自定義進行設置)。

                  2、本文未對TCG(時間增益修正)進行校準,只是針對不同的聚焦法則下進行比對檢測。

                  3、聚焦法則的設置:采用0度線掃描,激發(fā)孔徑為4晶片,激發(fā)起始晶片為1,終止晶片為16,連接mini掃查器,檢測由厚至薄,探頭聲束通過底片平底孔,檢測效果見圖2.

            圖2.激發(fā)四晶片線掃描檢測結果

            3、聚焦法則的設置:

            采用0度線掃描,激發(fā)孔徑為4晶片,激發(fā)起始晶片為1,終止晶片為16,連接mini掃查器,檢測由厚至薄,探頭聲束通過底片平底孔,檢測效果見圖3.

            圖3.激發(fā)八晶片線掃描檢測結果

            4、結論:

            采用OmniScan MX2檢測腐蝕,線掃描可用,B掃描檢測結果直觀(板厚變化明顯,平底孔顯示清晰)定量準確,C掃描檢測結果直觀易見,無法對面積定量,索引軸為未校正標尺,無法對面積進行定量。可采用TOMview,進行體積融合。

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