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體積表面電阻率測(cè)試儀：測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)、參數(shù)設(shè)置
閱讀：136發(fā)布時(shí)間：2025-3-31
體積表面電阻率測(cè)試儀是評(píng)估材料電學(xué)性能的核心設(shè)備，其測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)與參數(shù)設(shè)置直接影響測(cè)量結(jié)果的準(zhǔn)確性。根據(jù) ASTM D257、IEC 60093 及 GB/T 1410 等國(guó)際國(guó)內(nèi)標(biāo)準(zhǔn)，測(cè)試儀需滿足以下技術(shù)規(guī)范：
測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)要點(diǎn)
電極系統(tǒng)：采用三電極或四電極結(jié)構(gòu)，其中三電極系統(tǒng)可有效消除邊緣效應(yīng)，確保電場(chǎng)均勻分布。
測(cè)試電壓：通常選用 100V DC 或 500V DC 標(biāo)準(zhǔn)電壓，特殊材料需根據(jù)電阻率范圍調(diào)整至 10V-1000V。
環(huán)境控制：測(cè)試需在溫度 23±2℃、相對(duì)濕度 50±5% 的標(biāo)準(zhǔn)環(huán)境下進(jìn)行，避免溫濕度波動(dòng)引入誤差。
極化時(shí)間：依據(jù)材料特性設(shè)置極化時(shí)間，一般為 30 秒至 5 分鐘，確保材料內(nèi)部電荷充分穩(wěn)定。
關(guān)鍵參數(shù)設(shè)置
量程選擇：根據(jù)預(yù)估電阻率范圍切換量程，確保讀數(shù)位于滿量程的 30%-90% 區(qū)間。
測(cè)試模式：體積電阻率測(cè)試需配合絕緣支撐材料，表面電阻率測(cè)試需保持電極與樣品良好接觸。
保護(hù)電路：?jiǎn)⒂眠^載保護(hù)功能，防止高電壓下材料擊穿損壞設(shè)備。
實(shí)際操作中需注意：測(cè)試前應(yīng)對(duì)樣品進(jìn)行預(yù)處理（如清潔、干燥），電極與樣品間的接觸壓力需符合標(biāo)準(zhǔn)要求。對(duì)于高阻材料，需延長(zhǎng)測(cè)試時(shí)間并采用屏蔽措施減少環(huán)境干擾。定期對(duì)設(shè)備進(jìn)行校準(zhǔn)，確保其符合 JJF 1072 等計(jì)量規(guī)范，以維持測(cè)試結(jié)果的溯源性。
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