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選對天平，和靜電煩惱說拜拜
閱讀：686 發(fā)布時間：2023-5-9
靜電是一種常見的、自然發(fā)生的現(xiàn)象，但在研究實驗室中，包括在分析稱量過程中，它可以產(chǎn)生各種有害的影響。靜電會對稱量過程本身或結果產(chǎn)生不利影響，它們不僅會導致絕對重量不準確，還會導致漂移和重復性差，從而影響數(shù)據(jù)質(zhì)量，因此需要耗費時間的材料選擇或處理程序來應對這些問題。
帶有集成靜電中和技術的分析天平可以解決靜電煩惱，并確保各種分析稱重應用的準確性，是一種緊湊且有效的解決方案。Cubis® II 分析天平和半微量天平集成了電荷中和技術，以實現(xiàn)準確的稱量性能。
靜電荷是如何形成的
電子逸出功是指一個電子離開金屬表面所需的能量。兩個物體之間的摩擦會引發(fā)離子形成，因此電子逸出功較低的物質(zhì)很容易給電子逸出功較高的物質(zhì)提供電子。在稱重過程中，樣品內(nèi)部或樣品與容器或皮重容器之間存在摩擦，會產(chǎn)生靜電。
靜電荷對分析稱重的影響
待稱重物質(zhì)與天平固定部位相互作用，因該部位與稱重盤（包括通風罩或底板）沒有導電連接，所以導致物質(zhì)表面電荷積聚，進而產(chǎn)生靜電力。這些靜電力可能會產(chǎn)生虛假絕對重量（即與實際重量顯著偏離），并影響稱重精度。當電荷通過稱量盤消散時，靜電力的變化會導致漂移，從而產(chǎn)生不一致的結果并降低重復性。
靜電中和技術
賽多利斯 Cubis® II 采用了集成的電荷中和技術，可有效去除樣品和容器中的電荷，從而實現(xiàn)更精確的分析稱重。
