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14產(chǎn)品分類(lèi)品牌分類(lèi)
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塞貝克系數(shù)電阻測(cè)試儀 先進(jìn)功能材料電測(cè)綜合測(cè)試系統(tǒng)- 絕緣電阻劣化（離子遷移）評(píng)估系統(tǒng) 儲(chǔ)能新材料電學(xué)綜合測(cè)試系統(tǒng) 半導(dǎo)體封裝材料真空探針臺(tái) 空間電荷測(cè)試系統(tǒng) 電容器溫度特性評(píng)估系統(tǒng) 高頻高壓絕緣電阻、介電 多通道極化裝置 鐵電分析儀 高壓功率放大器 絕緣電阻率測(cè)試儀 高低溫冷熱臺(tái)測(cè)試系統(tǒng) 50點(diǎn)耐壓測(cè)試儀 電壓擊穿測(cè)定儀 耐電弧試驗(yàn)儀 探針臺(tái) 漏電起痕試驗(yàn)儀 多通道介電與電阻測(cè)試系統(tǒng)
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傳感器多功能綜合測(cè)試系統(tǒng) 先進(jìn)功能材料電測(cè)綜合測(cè)試系統(tǒng) 長(zhǎng)期耐腐蝕老化試驗(yàn)平臺(tái)- 高電場(chǎng)介電、損耗、漏電流測(cè)試系統(tǒng) 阻抗分析儀 鐵電綜合材料測(cè)試系統(tǒng) 鐵電分析儀 高壓功率放大器 D33壓電系數(shù)測(cè)試儀 高溫介電溫譜測(cè)試儀 熱釋電測(cè)試儀 TSDC熱刺激電流測(cè)試儀 高壓極化裝置 高低溫冷熱臺(tái) 簡(jiǎn)易探針臺(tái) 高溫四探針測(cè)試儀 多通道電流采集系統(tǒng) 高真空退火爐 電學(xué)綜合測(cè)試系統(tǒng) 高溫管式爐測(cè)試儀 漆包線(xiàn)擊穿耐壓試驗(yàn)儀 電化學(xué)遷移測(cè)試系統(tǒng) 水平垂直燃燒測(cè)定機(jī) 陶瓷材料閃燒試驗(yàn)裝置 導(dǎo)通電評(píng)估系統(tǒng) 差熱分析儀 醫(yī)用接地電阻
一款可測(cè)量塞貝克系數(shù)和電阻（電阻率）的設(shè)備？
一款可測(cè)量塞貝克系數(shù)和電阻（電阻率）的設(shè)備？
塞貝克系數(shù)電阻測(cè)試儀測(cè)試軟件：
塞貝克系數(shù)電阻測(cè)試儀采用計(jì)算機(jī)控制，系統(tǒng)軟件支持windows10/11,能實(shí)現(xiàn)自動(dòng)完成激勵(lì)、測(cè)量、數(shù)據(jù)處理并顯示或輸出測(cè)試結(jié)果,經(jīng)過(guò)專(zhuān)家和應(yīng)用工程師的努力，華測(cè)開(kāi)發(fā)出這款使用便捷的測(cè)量軟件。
• 文本編輯
• 重復(fù)測(cè)量可少的輸入?yún)?shù)
• 實(shí)時(shí)測(cè)量分析
• 測(cè)量曲線(xiàn)比較：多達(dá)32條曲線(xiàn)
• 曲線(xiàn)扣除
• 曲線(xiàn)放大縮小
• 一階/二階求導(dǎo)
• 多重峰分析
• 樣品溫度多點(diǎn)校正
• 多種方法分析（DSC TG 、TMA、DIL等）
• 焓變多點(diǎn)校正
• 熱流Cp測(cè)量
• 評(píng)估結(jié)果保存及導(dǎo)出
• ASCII數(shù)據(jù)導(dǎo)入與導(dǎo)出
• 數(shù)據(jù)生成到MS Excel
• 信號(hào)控制測(cè)量測(cè)序
塞貝克系數(shù)電阻測(cè)試儀技術(shù)指標(biāo)：
產(chǎn)品型號(hào)：HC-RD-1100
溫度范圍：RT ～ 800/1100/1500℃
測(cè)量原理：賽貝克系數(shù)：靜態(tài)直流法 ； 電阻率：四端法
氣氛：惰性、氧化、還原、真空
樣品支架：三明治結(jié)構(gòu)夾與兩電極之間
樣品尺寸（圓柱形或棱柱形）：2 至 5 mm（面寬），23mm φ6mm，23mm
樣品尺寸（圓盤(pán)狀）： 10、 12.7、 25.4 mm
可調(diào)探頭距離：4、 6、 8 mm
賽貝克系數(shù)測(cè)量范圍：1 ～ 2500μV/K 準(zhǔn)確度±7%；重復(fù)性±3%
電導(dǎo)率測(cè)量范圍：0.01 ～ 2*10 5 s/cm 準(zhǔn)確度±5-8%；再現(xiàn)性±3%
電源：0 ～ 1A，具長(zhǎng)期穩(wěn)定性
電極材料：鎳（-100至500°C）/鉑（-100至+1500°C）
熱電偶：K/S/C型