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塞貝克系數(shù)電阻測(cè)試儀 先進(jìn)功能材料電測(cè)綜合測(cè)試系統(tǒng)- 絕緣電阻劣化（離子遷移）評(píng)估系統(tǒng) 儲(chǔ)能新材料電學(xué)綜合測(cè)試系統(tǒng) 半導(dǎo)體封裝材料真空探針臺(tái) 空間電荷測(cè)試系統(tǒng) 電容器溫度特性評(píng)估系統(tǒng) 高頻高壓絕緣電阻、介電 多通道極化裝置 鐵電分析儀 高壓功率放大器 絕緣電阻率測(cè)試儀 高低溫冷熱臺(tái)測(cè)試系統(tǒng) 50點(diǎn)耐壓測(cè)試儀 電壓擊穿測(cè)定儀 耐電弧試驗(yàn)儀 探針臺(tái) 漏電起痕試驗(yàn)儀 多通道介電與電阻測(cè)試系統(tǒng)
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傳感器多功能綜合測(cè)試系統(tǒng) 先進(jìn)功能材料電測(cè)綜合測(cè)試系統(tǒng) 長(zhǎng)期耐腐蝕老化試驗(yàn)平臺(tái)- 高電場(chǎng)介電、損耗、漏電流測(cè)試系統(tǒng) 阻抗分析儀 鐵電綜合材料測(cè)試系統(tǒng) 鐵電分析儀 高壓功率放大器 D33壓電系數(shù)測(cè)試儀 高溫介電溫譜測(cè)試儀 熱釋電測(cè)試儀 TSDC熱刺激電流測(cè)試儀 高壓極化裝置 高低溫冷熱臺(tái) 簡(jiǎn)易探針臺(tái) 高溫四探針測(cè)試儀 多通道電流采集系統(tǒng) 高真空退火爐 電學(xué)綜合測(cè)試系統(tǒng) 高溫管式爐測(cè)試儀 漆包線擊穿耐壓試驗(yàn)儀 電化學(xué)遷移測(cè)試系統(tǒng) 水平垂直燃燒測(cè)定機(jī) 陶瓷材料閃燒試驗(yàn)裝置 導(dǎo)通電評(píng)估系統(tǒng) 差熱分析儀 醫(yī)用接地電阻
半導(dǎo)體封裝材料高溫絕緣電阻測(cè)試應(yīng)用場(chǎng)景有哪些？
半導(dǎo)體封裝材料高溫絕緣電阻測(cè)試系統(tǒng)
• 運(yùn)用原理：三電極法設(shè)計(jì)原理測(cè)量。
• 系統(tǒng)優(yōu)勢(shì)：重復(fù)性與穩(wěn)定性好，提升了夾具的抗干擾能力，同時(shí)大大提高精確度，可應(yīng)用于產(chǎn)品檢測(cè)以及新材料電學(xué)性能研究等。
• 安全設(shè)計(jì)：在過電壓、過電流、超溫 等異常情況下保證測(cè)試過程的安全；具備資料保存機(jī)制，當(dāng)遇到電腦異?；蛩矔r(shí)斷電時(shí)，可將資料保存于控制器中，設(shè)備重新開啟后可恢復(fù)原有試驗(yàn)數(shù)據(jù)。
• 控制器功能：允許程序重復(fù)多達(dá)9999次，每個(gè)程序步驟包括溫度、時(shí)間和變化率參數(shù)，測(cè)試最長(zhǎng)可達(dá)100小時(shí)。
• 溫控方式：采用可實(shí)現(xiàn)高精度溫控、高屏蔽干擾信號(hào)的循環(huán)熱風(fēng)加熱方式，具有均勻的溫度分布，可實(shí)現(xiàn)寬域均熱區(qū)、高速加熱、高速冷卻。
• 技術(shù)參數(shù)：
• 溫度范圍：-185℃~400℃（多段可選）
• 加熱方式：360°熱風(fēng)循環(huán)
• 控溫精度：±0.5℃
• 升溫斜率：10℃/min（可設(shè)定）
• 電阻：1~10^18Ω
• 測(cè)試方法：三電極法
• 輸入電壓：220V
• 測(cè)試體積：10.5升（0.37立方英尺）
• 電極材料：銅
• 夾具輔助材料：高溫云母
• 絕緣材料：99氧化鋁陶瓷
• 數(shù)據(jù)傳輸：USB接口/232通訊
• 應(yīng)用場(chǎng)景：環(huán)氧塑封料（EMC）性能評(píng)估、封裝結(jié)構(gòu)的可靠性驗(yàn)證、印刷電路板（PCB）制造、電子元件封裝、航空航天電子設(shè)備、發(fā)動(dòng)機(jī)控制系統(tǒng)、電動(dòng)汽車電池管理系統(tǒng)以及新材料研發(fā)和基礎(chǔ)科學(xué)研究等領(lǐng)域。
總之，半導(dǎo)體封裝材料高溫絕緣電阻測(cè)試系統(tǒng)是多功能的測(cè)試設(shè)備。
北京華測(cè)試驗(yàn)儀器有限公司專業(yè)研發(fā)生產(chǎn)半導(dǎo)體封裝材料高溫絕緣電阻測(cè)試系統(tǒng)，應(yīng)用在不同場(chǎng)景。
