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            目錄:深圳市新瑪科技有限公司>>安規(guī)測試儀>>Chroma電氣安規(guī)測試分析儀>> Model 19056/19057 Series耐壓測試分析儀

            Model 19056/19057 Series耐壓測試分析儀
            • Model 19056/19057 Series耐壓測試分析儀
            • Model 19056/19057 Series耐壓測試分析儀
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            參考價 面議
            具體成交價以合同協(xié)議為準
            參考價 面議
            具體成交價以合同協(xié)議為準
            • 品牌 Chroma/致茂
            • 型號
            • 廠商性質(zhì) 代理商
            • 所在地 深圳市
            屬性

            >

            更新時間:2025-05-12 10:46:07瀏覽次數(shù):149評價

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            Chroma/致茂Model 19056/19057 Series耐壓測試分析儀產(chǎn)品特色
            ·10kV AC & 20kV DC耐壓測試

            ·0.1MΩ~50GΩ絕緣電阻測試

            ·BDV崩潰電壓測試功能

            ·電氣閃絡檢測

            ·HVCC高壓接觸檢查

            ·HFCC高頻接觸檢查

            ·OSC開短路偵測

            ·GFI人體保護電路

            ·快速充放電功能

            Chroma/致茂Model 19056/19057 Series耐壓測試分析儀產(chǎn)品特色

            ·10kV AC & 20kV DC耐壓測試

            ·0.1MΩ~50GΩ絕緣電阻測試

            ·BDV崩潰電壓測試功能

            ·電氣閃絡檢測

            ·HVCC高壓接觸檢查

            ·HFCC高頻接觸檢查

            ·OSC開短路偵測

            ·GFI人體保護電路

            ·快速充放電功能

            ·可程序電壓輸出及測試限制值

            ·標準USB、RS232 & HANDLER界面

            ·可選購GPIB界面

            ·CE認證

            Chroma/致茂Model 19056/19057 Series耐壓測試分析儀系列為針對超高壓耐壓測試與分析所設計的設備。系列機種包含0kVac/12kVdc/20kVdc,最大輸出AC 20mA/ DC10mA。基本交/直流耐壓、絕緣電阻測試,對于產(chǎn)線測試時的接觸檢查議題,除設計有OSC開短路偵測,另外新增HVCC高壓接觸檢查(High Voltage Contact Check),針對高絕緣能力之組件于高壓輸出時同步進行接觸檢查,提升測試可靠度與效率。

            Chroma 19056/19057具有GFI(接地失效中斷)設計,當異常接地電流(A2-A1)發(fā)生時能實時切斷輸出,可保護作業(yè)員操作安全。

            超高壓耐壓分析儀主要針對高壓光偶合器及高壓繼電器、高壓開關(guān)、PV模塊等絕緣耐受力較高之組件提供高壓的耐壓測試與分析。

            電容性高壓組件進行DC耐壓測試時必須充電與放電,本系列具有快速充電功能有效降低測試的時間,提高生產(chǎn)測試效率。

            全系列耐壓分析儀皆具有Flashover(ARC)偵測功能。經(jīng)由設定啟始電壓、結(jié)束電壓、爬升步序、次數(shù)及時間,進行放電程度分析。放電程度分析模式(DLA)提供階段判斷方式,可設定電氣閃絡檢測(Flashover,ARC)、絕緣崩潰檢測(Breakdown,high limit)。當測試中有不良出現(xiàn)時,19056/19057會依限制值顯示出耐壓強度(WithstandingVoltage),其分別代表電氣閃絡啟始電壓(Flashover Start Voltage,FSV)及絕緣崩潰電壓(BreakDown Voltage,BDV)。在分析量測的同時可以外掛示波器同步觀察波形。藉由這些測試結(jié)果,研究人員可以對產(chǎn)品進行分析與研究,針對組件絕緣較弱的部份進行改善。

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