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微區(qū)掃描電化學(xué)工作站實驗開始前的準(zhǔn)備工作
微區(qū)掃描電化學(xué)工作站實驗開始前，調(diào)整、檢查樣品的時間往往很長。如果可以在噪聲信號中增強數(shù)據(jù)信號并收集數(shù)據(jù)信號，可以大大減少時間投入，這樣的話，實驗就會變得更快、更簡略。本文介紹了四個即時有效的數(shù)據(jù)處理的方法，可以用于那些為了縮短實驗時間而進行的快速掃描獲得的實驗數(shù)據(jù)。本文演示的是一個不是特別水平的SKP樣品，設(shè)備沒有設(shè)置成提取有效數(shù)據(jù)的狀態(tài)，實驗結(jié)果很糟糕。處理后的數(shù)據(jù)顯示在掃描中心附近有一個小壓痕。為了進行比較，還做了進一步的檢查。
微區(qū)掃描電化學(xué)工作站具有更高規(guī)格和更多探針技術(shù):
掃描電化學(xué)顯微系統(tǒng)（SECM）
交流掃描電化學(xué)顯微鏡系統(tǒng)（ac-SECM）
間歇接觸掃描電化學(xué)顯微鏡系統(tǒng)（ic-SECM）
微區(qū)電化學(xué)阻抗測試系統(tǒng)(LEIS)
掃描振動點擊測試系統(tǒng)（SVET）
電解液微滴掃描系統(tǒng)（SDS）
交流電解液微滴掃描系統(tǒng)（ac-SDS）
掃描開爾文探針測試系統(tǒng)（SKP）
非觸式微區(qū)形貌測試系統(tǒng)（OSP）
微區(qū)掃描電化學(xué)工作站是一個建立在電化學(xué)掃描探針的設(shè)計基礎(chǔ)上的，進行超高測量分辨率及空間分辨率的非接觸式微區(qū)形貌及電化學(xué)微區(qū)測試系統(tǒng)。