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E122-C拓片復(fù)制膠帶的使用方法
E122-C拓片復(fù)制膠帶的使用方法
1，從卷筒撕下一個(gè)部分測(cè)試帶，玻璃測(cè)試帶的背襯，保留背面如果將來(lái)需要使用。
2，粘測(cè)試帶到表面，用調(diào)酒棒或鉛筆頭擦中心部分直到黑斑出現(xiàn)，這給出了一個(gè)表面的復(fù)制。
3，使用測(cè)厚儀，如易高E124-3M測(cè)量測(cè)試帶中央部分的厚度，減去50μm，這個(gè)結(jié)果就是波峰到波谷的輪廓高度，寫這值到復(fù)制帶上。
4，如果測(cè)量值落入Coarse測(cè)試帶（38-64μm）上的紫色內(nèi)，接著重復(fù)測(cè)試步驟2，使用X-Coarse測(cè)試帶，然后取這2個(gè)數(shù)值的平均值。
5，如果測(cè)試帶需要將來(lái)供參考，更換回背襯保存輪廓印跡。
對(duì)于12到25μm（0.5-1.0mils）之間的粗糙度，用Coarse Minus
對(duì)于20*38µm（0.8*1.5mils）的表面粗糙度：Coarse
對(duì)于38*64µm（1.5*2.5mils）之間的表面粗糙度：Coarse和X-Coarse復(fù)制膠帶的平均值
對(duì)于64和115µm（2.5和4.5mils）之間的表面粗糙度：X-Coarse
珠海天創(chuàng)儀器代理銷售國(guó)內(nèi)外超聲探傷產(chǎn)品：超聲波測(cè)厚儀、超聲波探傷儀、各種配件、超聲波探頭、耦合劑等
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