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濟寧儒佳檢測儀器有限公司

代理南通友聯(lián)PXUT系列超聲波探傷儀

可致馮東源  

索要電子版操作步驟，使用方法

一、橫波斜探頭的調校

1．開機：長按<電源>鍵，按兩次        鍵。

2．初始化儀器

   按        鍵，選0，再選1

3.調試

1） 測零點：長按         鍵，按<1>測零點，

按        鍵開始測試，如圖1：將斜探頭放在

CSK-IA試塊上移動，尋找R100的zui高回波，按

        鍵，用鋼尺量出探頭zui前端至100mm弧

頂?shù)木嚯xL，輸入所測數(shù)值并按        鍵。                            圖1

2）測K值：長按         鍵，按<2>測K值，

按        鍵開始測試，如圖2：將斜探頭放在CSK-IA試

塊上移動，尋找Ф50孔的zui高回波，按        鍵。

                                                                圖2

3） 作DAC曲線：長按        鍵，按<3>制作DAC，

按        鍵開始測試，如圖3：將斜探頭放在CSK-IIIA

試塊上，尋找10mm深孔的zui高回波，按        鍵使回波

到80％，按      鍵鎖定回波，按        鍵完成*

點制作；按上述步驟依次采定測試點（20mm,30mm，40mm，50mm ......）   圖3

各點采集完成后按        鍵，輸入表面補償4dB及所探焊縫板材厚度,按        鍵，屏幕上曲線自動生成，儀器會自動根據(jù)所輸入的板厚設置合適的聲程范圍（2倍板厚處置于儀器水平刻度的80%）以及合適的掃查靈敏度（2倍板厚處評定線不低于滿屏的20%）。

二、焊縫探傷常規(guī)操作方法

假設探傷條件和要求如下：

1．工件：22mm厚的鋼板焊縫

2．探頭：K2，2.5P13×13，斜探頭

3．試塊：CSK-IA，CSK-ⅢA

4．DAC法

DAC點數(shù)： 3（10、30、50）

 按照JB/T4730.3-2005標準：判廢線偏移量：+5 dB  ，定量線偏移量：-3 dB，評定線偏移量：-9  dB

1）按照前面所述調試方法，制作完DAC曲線后，將探頭放置在待測工件上如圖4進行鋸齒型掃查。

         圖4                                    圖5

2）當發(fā)現(xiàn)缺陷回波高度超過定量線后，仔細移動探頭找到該缺陷的zui高回波（注：在找zui高回波時可通過使用儀器上的自動增益快捷鍵       使回波快速置于屏幕的80%高，按       鍵可恢復掃查靈敏度），此時需要記錄的數(shù)據(jù)分別為a.屏幕上方顯示區(qū)缺陷的深度讀數(shù)¯XX.X記錄為H、b.屏幕上方顯示區(qū)SL+XXdB、c.缺陷zui高波所在區(qū)域（Π或Ш區(qū)）、d.用鋼尺量出的缺陷距離試板左端點的距離S3（從探頭中心位置量，或從探頭左邊沿量再加上探頭寬度的一半）、e.通過屏幕上方顯示區(qū)缺陷的水平讀數(shù)®XX.X，用鋼尺量出缺陷偏離焊縫中心線的位置（A或B）。

3）測量缺陷的長度。如圖5，在找到缺陷zui高波并使得zui高波置于屏幕80%高度后，分別左右平行移動探頭，使得回波均降至zui高波的一半即40%，記錄下缺陷的左邊界S1，缺陷的右邊界S2，以及缺陷的長度S2-S1（注：如果缺陷有多個高點應使用端點半波高度法側長）

此時缺陷數(shù)據(jù)即記錄完成，然后將數(shù)據(jù)填入下表中：

S1---缺陷起始距試板左端頭的距離

S2---缺陷終點距試板左端頭的距離

S3---缺陷波幅zui高點距試板左端頭的距離

三、縱波單晶直探頭測試鍛件方法

1．開機：長按<電源>鍵，按兩次        鍵。

2．初始化儀器

按        鍵，選0，再選1

3．探頭參數(shù)設置：按兩下          鍵調出設置菜單，按<1>將探頭類型設為“直探頭”，按        退出菜單。

 4．探頭零點的調校 

長按         鍵，按<1>測零點，按        鍵開始測試                                             

如圖6所示，將探頭置于CSK—IA試塊100mm厚的大平

底上，待回波自動降至屏幕80%高時按        鍵。

圖6

5.探傷靈敏度的調節(jié)

將探頭放置于工件無缺陷處找出大平底zui高回波，按        鍵再按      或      鍵，將回波調節(jié)至滿幅80%,記錄此時儀器顯示增益讀數(shù)，記為BG，然后根據(jù)公式：  算出大平底與F2的dB差，記為 dB1。此時將儀器增益提高到BG+dB1,此即為探傷靈敏度。（λ=聲速/頻率，  X=工件厚度，  D=平底孔直徑F2）

6.工件探傷

  將探頭放置在工件上掃查，如發(fā)現(xiàn)缺陷回波，按        鍵再按       或      鍵將波門移至缺陷波上方，通過調節(jié)增益使得缺陷波的zui高波置于屏幕的80%高，記錄下此時的增益值，記為dB2，同時記錄下屏幕上方顯示區(qū)缺陷的深度讀數(shù)¯XX.X記錄為h

7.缺陷當量的計算：

方法一：△ dB= BG+dB1－dB2－12－40lg（X/h）

即缺陷大小相當于F4＋△ dB，查標準評級

方法二：根據(jù)公式                                  其中      為鍛件厚度，     為缺陷

深度，    為待測缺陷孔徑，    為Ф2 ，算出缺陷的孔徑 

                                        
 然后根據(jù)公式△ dB=        算出缺陷大小相當于F4＋△ dB，查標準評級

8.記錄缺陷坐標值（X,Y） 如圖7

                             圖7

9.鍛件探傷記錄表

四．鋼板探傷儀器調試方法

根據(jù)板厚選擇探頭和試塊。

1、 δ≤20mm 采用雙晶直探頭，試塊采用階梯試塊或工件大平底。

2、 δ>20mm 采用單晶直探頭，試塊采用Ф5mm平底孔試塊。

（一） 單晶直探頭檢測厚鋼板的調試方法

1．開機：長按<電源>鍵，按兩次        鍵。

2．初始化儀器

按        鍵，選0，再選1

3．探頭參數(shù)設置：按兩下          鍵調出設置菜單，按<1>將探頭類型設為“直探頭”，按        退出菜單。

4．探頭零點的調校

長按        鍵，按<1>測零點，將一次聲程改為20，二次聲程為0 ，按        鍵進入測

試，將探頭 如圖8 放置在Ф5平底孔試塊上，待回波自動降至屏幕80%高時按       完成測試 。                                      

5.探傷靈敏度的調節(jié)

  將探頭置于Ф5平底孔試塊中心，找尋Ф5孔的zui高波，將zui高波通過調節(jié)增益降至屏幕的50%高，此時靈敏度即調節(jié)完畢。

                           圖8

（二） 雙晶直探頭檢測薄鋼板的調試方法

圖9

1．開機：長按<電源>鍵，按兩次        鍵。

2．初始化儀器

按        鍵，選0，再選1

3．探頭參數(shù)設置：按兩下          鍵調出設置菜單，按<1>將探頭類型設為“雙晶探頭”

按        退出菜單。

4．探頭零點的調校

長按        鍵，按<1>測零點，將一次聲程改為與待測鋼板厚度近似的階梯試塊厚度（例如

鋼板厚度為16，即選擇18厚的階梯來測零點），二次聲程為0 ，按         鍵進入測

試，將探頭 如圖9放置在對應厚度的階梯試塊上，待回波自動降至屏幕80%高時按

鍵完成測試 。                                      

5.探傷靈敏度的調節(jié)

  將探頭置于對應厚度的階梯試塊上，壓穩(wěn)不動，將大平底zui高波通過調節(jié)增益降至屏幕的50%高，再提高10dB，此時靈敏度即調節(jié)完畢。

五、鋼板探傷應用

1.掃查方式

  如圖10，用探頭在鋼板上沿上下和左右方向進行網(wǎng)格型掃查

                   圖10

2.缺陷的判別

在檢測過程中，發(fā)現(xiàn)下列三種情況之一即作為缺陷：

a）  缺陷*次反射波（F1）波高大于或等于滿刻度的50%，即F1≥50%；

b）  當?shù)酌?次反射波（B1）波高未達到滿刻度，此時，缺陷*次反射波（F1）波高與底面*次反射波（B1）波高之比大于或等于50%，即B1<100%，而F1/B1≥50%；

c）  底面*次反射波（B1）波高低于滿刻度的50%，即B1＜50%。

3.缺陷的邊界范圍或指示長度的測定方法

    a）  檢出缺陷后，應在它的周圍繼續(xù)進行檢測，以確定缺陷的延伸。

b）  用雙晶直探頭確定缺陷的邊界范圍或指示長度時，探頭的移動方向應與探頭的隔聲層相垂直，并使缺陷波下降到基準靈敏度條件下熒光屏滿刻度的25%或使缺陷*次反射波高與底面*次反射波高之比為50%。此時，探頭中心的移動距離即為缺陷的指示長度，探頭中心點即為缺陷的邊界點。兩種方法測得的結果以較嚴重者為準。

c）  用單直探頭確定缺陷的邊界范圍或指示長度時，移動探頭使缺陷波*次反射波高下降到基準靈敏度條件下熒光屏滿刻度的25%或使缺陷*次反射波與底面*次反射波高之比為50%。此時，探頭中心的移動距離即為缺陷的指示長度，探頭中心即為缺陷的邊界點。兩種方法測得的結果以較嚴重者為準。

d）  當板厚較薄，確需采用第二次缺陷波和第二次底波來評定缺陷時，基準靈敏度應以相應的第

二次反射波來校準。

   4.缺陷的記錄

  缺陷的位置記錄應根據(jù)發(fā)現(xiàn)缺陷的探頭的中心位置來確定，并在工件上作標記（大約標記8個點就能確定缺陷的基本形狀），然后測量出缺陷距鋼板左邊的zui小距離L1、距鋼板下邊的zui小距離L2，缺陷的zui大指示長度L3，并算出缺陷面積，以及缺陷面積占1平方米面積的百分比。

鋼板標準報告格式

焊縫超聲波探傷報告

11.缺陷示意圖

1． 試樣編號：                            試樣厚度：    20                   

2． 焊接方法：  手工電弧 /自動焊           坡口型式：   V/X                       

3． 儀器型號： PXUT-350B+                探頭規(guī)格：  2.5P13*13K2                        

4． 入射點測定：（1）    14      （2）   13     （3）  12    平均： 13              

5． K值測定： （1）     2.01   （2）   1.99    （3）    2   平均：2               

6． 時基掃描線調整方法與比例：   厚板（深度1：1）/薄板（水平1：1）                                                  

7． 標準試塊：CSK-IA      CSK-IIIA                 對比試塊：                         

8． 聲能損失修正：          4                                       dB

9． 工件探傷靈敏度   ф 1 ?6-9dB                              

11.缺陷示意圖