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超聲波探傷時(shí)影響缺陷定位的主要因素
閱讀：1551 發(fā)布時(shí)間：2021-8-11
超聲波探傷時(shí)影響缺陷定位的主要因素
1.超聲波探傷儀的影響：水平線性、水平刻度精度。
2.超聲波探頭：主聲束偏向，探頭波束雙峰，斜探頭斜楔磨損使K值變化，探頭晶片發(fā)射、接收聲波指向性。
3.被測(cè)工件影響：
a.表面粗糙：表面凹凸不平引起進(jìn)入工件聲束分叉；
b.工件材質(zhì)：材質(zhì)晶粒引起林狀反射，即材料噪聲，試塊與工件材質(zhì)差異，引起聲速變化，試塊與工件應(yīng)力差異，引起聲速變化使K值變。壓力應(yīng)力聲速增加，拉應(yīng)力聲速減小每1kg/mm2引起0.01%；
c.工件表面形狀：曲面工件探傷時(shí)探頭平面時(shí)為點(diǎn)或線接觸探頭磨成曲面，使入射點(diǎn)改變，從而引起K值變化;
d.工件邊界：靠工件邊界探測(cè)時(shí)，由于側(cè)壁干擾，使主聲束偏向，改變K值;
e.工件溫度：工件溫度升高K值增大，工件溫度下降K值變小;
f.工件中缺陷：缺陷反射指向性引起不在主聲束入射缺陷時(shí)出現(xiàn)高反射，引起誤判;
4.操作人員影響
a.調(diào)試超聲波探傷儀掃描線比例不準(zhǔn)。
b.測(cè)量超聲波探頭入射值，K值不準(zhǔn)。
c.定位方法不當(dāng)：曲面工件未修正等。
超聲探傷中使用的試塊分為標(biāo)準(zhǔn)試塊和對(duì)比試塊兩大類。
1.標(biāo)準(zhǔn)試塊具有規(guī)定的材質(zhì)、表面狀態(tài)、幾何形狀與尺寸，可用以評(píng)定和校準(zhǔn)超聲檢測(cè)設(shè)備
對(duì)比試塊是以特定方法檢測(cè)特定試件時(shí)所用的試塊。
2.探傷中使用試塊是為了保證檢測(cè)結(jié)果的準(zhǔn)確性與可重復(fù)性、可比性。
3.超聲測(cè)量中使用的試塊是針對(duì)待測(cè)工件而特別制作的相同材質(zhì)、熱處理工藝的試塊。它的使用是為了校準(zhǔn)儀器的聲速及零點(diǎn)，以便得到比較準(zhǔn)確的測(cè)量厚度。