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            北京海富達(dá)科技有限公司

            主營產(chǎn)品: 臭氧檢測儀,環(huán)境檢測儀器,水質(zhì)分析儀/ORP測定儀/溶解氧

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            18910282514

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            公司信息

            聯(lián)人:
            吳經(jīng)理
            話:
            010-59410839
            機(jī):
            18910282514
            真:
            址:
            北京市海淀區(qū)上地三街一號
            編:
            100085
            個(gè)化:
            www.kege17.com
            網(wǎng)址:
            www.kege17.com
            鋪:
            http://www.apwanrong.com/st178891/
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            LT-1CCN61M/LT-1高頻光電導(dǎo)少數(shù)載流子壽命測試儀報(bào)價(jià)
            高頻光電導(dǎo)少數(shù)載流子壽命測試儀報(bào)價(jià)
            參考價(jià) 面議
            具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
            • 型號 LT-1CCN61M/LT-1
            • 品牌 其他品牌
            • 廠商性質(zhì) 經(jīng)銷商
            • 所在地 北京市

            更新時(shí)間:2020-11-05 09:40:57瀏覽次數(shù):912

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            【簡單介紹】
            產(chǎn)地類別 國產(chǎn) 應(yīng)用領(lǐng)域 電子/電池
            高頻光電導(dǎo)少數(shù)載流子壽命測試儀報(bào)價(jià)

            (單晶少子壽命測試儀)原型號LT-1C 型號:CN61M/LT-1

            庫號:M220754

            1、概述
            LT-1高頻光電導(dǎo)少數(shù)載流子壽命測試儀是參照半導(dǎo)體設(shè)備和材料組織SEMI標(biāo)準(zhǔn)(F28-75)及國家標(biāo)準(zhǔn)GB/T1553-1997設(shè)計(jì)制造。本設(shè)備采用高頻光電導(dǎo)衰減測量方法,適用于硅、鍺單晶的少數(shù)載流子壽命測量,硅單晶壽命測量ρ≥2Ω·cm,由于對樣塊體形
            【詳細(xì)說明】

            高頻光電導(dǎo)少數(shù)載流子壽命測試儀報(bào)價(jià)

            高頻光電導(dǎo)少數(shù)載流子壽命測試儀報(bào)價(jià)

            (單晶少子壽命測試儀)原型號LT-1C 型號:CN61M/LT-1

            庫號:M220754  

            1、概述
            LT-1高頻光電導(dǎo)少數(shù)載流子壽命測試儀是參照半導(dǎo)體設(shè)備和材料組織SEMI標(biāo)準(zhǔn)(F28-75)及國家標(biāo)準(zhǔn)GB/T1553-1997設(shè)計(jì)制造。本設(shè)備采用高頻光電導(dǎo)衰減測量方法,適用于硅、鍺單晶的少數(shù)載流子壽命測量,硅單晶壽命測量ρ≥2Ω·cm,由于對樣塊體形無嚴(yán)格要求,因此廣泛應(yīng)用于工廠的常規(guī)測量。壽命測量可靈敏地反映單晶體重金屬污染及缺陷存在的情況,是單晶質(zhì)量的重要檢測項(xiàng)目。
            2、技術(shù)參數(shù)

            (1)壽命測試范圍:5~10000μs;電阻率測量范圍:ρ≥2Ω·cm
            測電子級參雜硅單晶片(厚度小于1mm),電阻率范圍:ρ>0.1Ω·cm(表面可能需要拋光處理)
            測量重復(fù)性誤差≤±20%
            (2)光脈沖發(fā)生裝置
            重復(fù)頻率>20~30次/s,光脈沖關(guān)斷時(shí)間:0.2~1μs,余輝<1μs
            紅外光源波長:1.06~1.09μm(測量硅單晶),紅外光在硅單晶內(nèi)穿透深度大于500μm如測量鍺單晶壽命需另行配置適當(dāng)波長的光源
            脈沖電源:5A~20A
            (3)高頻源
            高頻振蕩源:石英諧振器;頻率:30MHz;低輸出阻抗,輸出功率>1W
            (4) 放大器和檢波器
            放大倍數(shù)約25倍,頻寬:2Hz~2MHz
            (5)儀器配置的光源電極臺既可測縱向放置的單晶,亦可測豎放單晶橫載面的壽命
            可測單晶尺寸:
            斷面豎測:直徑25~150,厚度2mm~500mm
            縱向臥測:直徑5mm~150mm,長度50mm~800mm
            (6)讀數(shù)方式:可選配載流子壽命測試軟件系統(tǒng)或數(shù)字示波器讀數(shù),軟件系統(tǒng)測試操作簡單,點(diǎn)擊“測量”即可,自動(dòng)保存數(shù)據(jù)及相應(yīng)測試點(diǎn)衰減波形到數(shù)據(jù)庫,可進(jìn)行查詢歷史數(shù)據(jù)和導(dǎo)出歷史數(shù)據(jù)等操作。

             



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