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恒溫恒濕箱試驗標(biāo)準(zhǔn)環(huán)境試驗設(shè)備 
GB 10586-89 濕熱試驗箱技術(shù)條件 
GB 10587-89 鹽霧試驗箱技術(shù)條件 
GB 10588-89 長霉試驗箱技術(shù)條件 
GB 10589-89 低溫試驗箱技術(shù)條件 
GB 10590-89 低溫/低氣壓試驗箱技術(shù)務(wù)件 
GB 10591-89 高溫/低氣壓試驗箱技術(shù)條件 
GB 10592-89 高、低溫試驗箱技術(shù)條件 
GB 11158-89 高溫試驗箱技術(shù)條件 
GB 11159-89 低氣壓試驗箱技術(shù)條件 
環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 
GB/T 5170.1-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備 基本參數(shù)檢定方法 總則 
GB/T 5170.2-1996 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備 基本參數(shù)檢定方法 溫度試驗設(shè)備 
GB/T 5170.5-1996 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備 基本參數(shù)檢定方法 濕熱試驗設(shè)備 
GB/T 5170.8-1996 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備 基本參數(shù)檢定方法 鹽霧試驗設(shè)備 
GB/T 5170.9-1996 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備 基本參數(shù)檢定方法 太陽輔射試驗設(shè)備 
GB/T 5170.10-1996 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備 基本參數(shù)檢定方法 高低溫低氣壓試驗設(shè)備 
GB/T 5170.11-1996 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備 基本參數(shù)檢定方法 腐蝕氣體試設(shè)備 
GB 5170.13-85 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備 基本參數(shù)檢定方法 振動（正弦）試驗用機械振動臺 
GB 5170.14-85 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備 基本參數(shù)檢定方法 振動（正弦）試驗用電動振動臺 
GB 5170.15-85 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備 基本參數(shù)檢定方法 振動（正弦）試驗用液壓振動臺 
GB 5170.16-85 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備 基本參數(shù)檢定方法 恒加速度試驗用離心式試驗機 
GB 5170.17-87 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備 基本參數(shù)檢定方法 低溫/低氣壓/濕熱綜合順序試驗設(shè)備 
GB 5170.18-87 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備 基本參數(shù)檢定方法 溫度/濕度組合循環(huán)試驗設(shè)備 
GB 5170.19-89 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備 基本參數(shù)檢定方法  溫度/振動（正弦）綜合試驗設(shè)備 
GB 5170.20-89 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備 基本參數(shù)檢定方法 水路試驗設(shè)備 
GB/T 2421-1999 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第1部分：總則 
GB/T 2422-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 術(shù)語 
GB/T 2423.1-2001 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗A:低溫試驗方法 
GB/T 2423.2-2001 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗B:高溫試驗方法 
GB/T 2423.3-1993 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Ca:恒定濕熱試驗方法 
GB/T 2423.4-1993 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Db:交變濕熱試驗方法  
GB/T 2423.5-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Ea和導(dǎo)則:沖擊 
GB/T 2423.6-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Eb和導(dǎo)則:碰撞 
GB/T 2423.7-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Ec和導(dǎo)則:傾跌與翻倒（主要用于設(shè)備型樣品） 
GB/T 2423.8-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Ed:自由跌落 
GB/T 2423.9-2001 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Cb:設(shè)備用恒定濕熱試驗方法 
GB/T 2423.10-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Fc和導(dǎo)則:振動（正弦） 
GB/T 2423.11-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Fd:寬頻帶隨機振動—一般要求 
GB/T 2423.12-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Fda: 寬頻帶隨機振動—高再現(xiàn)性 
GB/T 2423.13-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Fda: 寬頻帶隨機振動—中再現(xiàn)性 
GB/T 2423.14-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Fda: 寬頻帶隨機振動—低再現(xiàn)性 
GB/T 2423.15-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Ga和導(dǎo)則:穩(wěn)態(tài)加速度 
GB/T 2423.16-1999 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗J和導(dǎo)則:長霉 
GB/T 2423.17-1993 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 第2部分:試驗方法 試驗Ka;鹽霧試驗方法 
GB/T 2423.18-2000 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗 試驗Kb:鹽務(wù),交變（氯化鈉溶液） 
GB/T 2423.19-1981 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Kc:接觸點和連接件的二氧化硫試驗方法 
GB/T 2423.20-1981 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Kd:接觸點和連接件的硫化氫試驗方法 
GB/T 2423.21-1991 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗M:低氣壓試驗方法 
GB/T 2423.22-2002 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗N:溫度變化試驗方法 
GB/T 2423.23-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 試驗Q:密封 
GB/T 2423.24-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗 試驗Sa:模擬地面上的太陽輔射 
GB/T 2423.25-1992 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Z/AM:低溫/低氣壓綜合試驗 
GB/T 2423.26-1992 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Z/BM:高溫/低氣壓綜合試驗 
GB/T 2423.27-1981 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Z/AMD:低溫/低氣壓/濕熱連續(xù)綜合試驗 
GB/T 2423.28-1982 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗T:錫焊試驗方法 
GB/T 2423.29-1999 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗U:引出端及整體安裝件強度 
GB/T 2423.30-1999 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗XA和導(dǎo)則:在清洗劑中浸漬 
GB/T 2423.31-1985 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 傾斜和搖擺試驗方法 
GB/T 2423.32-1985 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 潤濕稱量法可焊性試驗方法 
GB/T 2423.33-1989 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Kca:高濃度二氧化硫試驗方法 
GB/T 2423.34-1986 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Z/AD:溫度/濕度組合循環(huán)試驗方法 
GB/T 2423.35-1986 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Z/Afc:散熱和非散熱試驗樣品的低溫/振動（正弦）綜合試驗方法 
GB/T 2423.36-1986 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗ZBFc: 散熱和非散熱樣品的高溫/振動（正弦）綜合試驗方法 
GB/T 2423.37-1989 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗L:砂塵試驗方法 
GB/T 2423.38-1990 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗R:水試驗方法 
GB/T 2423.39-1990 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Ee:彈跳試驗方法 
GB/T 2423.40-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Cx:未飽和高壓蒸汽恒定濕熱 
GB/T 2423.41-1994 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 風(fēng)壓試驗方法 
GB/T 2423.42-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 低溫/低氣壓/振動（正弦）綜合試驗方法